[发明专利]一种颗粒材料的颗粒状态分析方法、装置及设备有效
| 申请号： | 201910664313.X | 申请日： | 2019-07-23 |
| 公开（公告）号： | CN110414116B | 公开（公告）日： | 2021-05-04 |
| 发明（设计）人： | 赖正首;黄林冲 | 申请（专利权）人： | 中山大学 |
| 主分类号： | G06F30/20 | 分类号： | G06F30/20 |
| 代理公司： | 广东合方知识产权代理有限公司 44561 | 代理人： | 许建成 |
| 地址： | 510275 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 一种颗粒材料的颗粒状态分析方法包括：获取待分析的颗粒材料中的颗粒的几何形态，通过傅里叶级数表征所述颗粒材料的数学描述，所述数学描述包括颗粒形状描述符和颗粒位置描述符；根据所述颗粒材料的数学描述，判断颗粒之间是否接触；如果颗粒之间有接触，则根据所述颗粒材料的数学描述，计算颗粒之间的接触特征；根据所述颗粒之间的接触特征，计算颗粒之间的接触力，根据所计算的接触力更新颗粒的运动状态，得到颗粒材料的宏观力学响应。通过该数学描述方式，能够适用于任意形状颗粒，而且颗粒形状描述符保持常量，独立于颗粒的位置描述符，在颗粒发生移动或旋转时，不需要更新颗粒的形状描述符，运算量较低，计算效率较高。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 颗粒 材料 状态 分析 方法 装置 设备 | ||
【主权项】：
1.一种颗粒材料的颗粒状态分析方法，其特征在于，所述颗粒材料的颗粒状态分析方法包括：获取待分析的颗粒材料中的颗粒的几何形态，通过傅里叶级数表征所述颗粒材料的数学描述，所述数学描述包括颗粒形状描述符和颗粒位置描述符；根据所述颗粒材料的数学描述，判断颗粒之间是否接触；如果颗粒之间有接触，则根据所述颗粒材料的数学描述，计算颗粒之间的接触特征；根据所述颗粒之间的接触特征，计算颗粒之间的接触力，根据所计算的接触力更新颗粒的运动状态；根据所获取的颗粒当前的状态以及颗粒在下一时刻的状态，通过时间步的迭代，获取颗粒在一时间段的力学响应与状态演化。
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