[发明专利]一种细胞力学特性测量设备及测量方法有效

专利信息
申请号: 201910655491.6 申请日: 2019-07-19
公开(公告)号: CN110567859B 公开(公告)日: 2021-05-14
发明(设计)人: 辛学刚;李泽诚 申请(专利权)人: 华南理工大学
主分类号: G01N15/10 分类号: G01N15/10
代理公司: 广州市华学知识产权代理有限公司 44245 代理人: 裴磊磊
地址: 510640 广*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种细胞力学特性测量设备,包括激光测力系统、显微观察系统、位置控制系统、信号接收/转换与数字控制系统、后处理软件系统以及可升降载物台;激光测力系统包括双探针构件、双探针构件负重压头、激光光源和位置探测器;显微观察系统包括单筒显微镜和多光源构件;位置控制系统包括位置探测器位移控制器、激光光源位移控制器、激光测力系统位移控制器、样品台XY轴位移控制器、样品台Z轴位移控制器以及纳米Z轴位移控制器;信号接收/转换与数字控制系统包括位移台控制器、位置探测器信号处理单元以及计算机;后处理软件系统包括灵敏度测定模块、热曲线分析模块、力曲线分析模块以及全局图像处理模块。
搜索关键词: 一种 细胞 力学 特性 测量 设备 测量方法
【主权项】:
1.一种细胞力学特性测量设备,其特征在于,包括激光测力系统、显微观察系统、位置控制系统、信号接收/转换与数字控制系统、后处理软件系统以及可升降载物台;/n所述激光测力系统包括双探针构件、双探针构件负重压头、激光光源和位置探测器;/n所述显微观察系统包括单筒显微镜和多光源构件;/n所述位置控制系统包括位置探测器位移控制器、激光光源位移控制器、激光测力系统位移控制器、样品台XY轴位移控制器、样品台Z轴位移控制器以及纳米Z轴位移控制器;/n所述信号接收/转换与数字控制系统包括位移台控制器、位置探测器信号处理单元以及计算机;/n所述后处理软件系统包括灵敏度测定模块、热曲线分析模块、力曲线分析模块以及全局图像处理模块。/n
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