[发明专利]一种点灯测试治具及其测试方法在审
| 申请号： | 201910644712.X | 申请日： | 2019-07-17 |
| 公开（公告）号： | CN110296936A | 公开（公告）日： | 2019-10-01 |
| 发明（设计）人： | 余朋飞 | 申请（专利权）人： | 武汉华星光电技术有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/01 | 分类号： | G01N21/01;G01N21/956;H05K13/08 |
| 代理公司： | 深圳翼盛智成知识产权事务所(普通合伙) 44300 | 代理人： | 黄威 |
| 地址： | 430079 湖北省武汉市*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明提供一种点灯测试治具，所述点灯测试治具包括：基座；第一固定构件，用于固定测试面板，所述测试面板上设有柔性电路板；第二固定构件，用于固定所述柔性电路板的信号端子；测试端子；对位构件，用于对位所述测试端子以及固定在所述第二固定构件中的信号端子；测试构件，连接所述测试端子；本发明通过将测试面板的柔性电路板的信号端子固定到指定位置，利用电动装置将治具的测试端子下移，使之与柔性电路板的信号端子电连接，从而实现LCD产品的点亮，此方法可有效提高柔性电路板的信号端子的探针的扎针精度，从而提高产线作业点灯效率，且可有效改善柔性电路板反弹的情况，避免柔性电路板的信号端子的探针被压伤。 | ||
| 搜索关键词： | 柔性电路板 信号端子 测试端子 测试面板 测试治具 固定构件 点灯 探针 测试构件 点灯效率 电动装置 对位构件 电连接 扎针 产线 点亮 对位 下移 压伤 治具 测试 反弹 | ||
【主权项】：
1.一种点灯测试治具，其特征在于，所述点灯测试治具包括：基座；第一固定构件，用于固定测试面板，所述测试面板上设有柔性电路板；第二固定构件，用于固定所述柔性电路板的信号端子；测试端子；对位构件，用于对位所述测试端子以及固定在所述第二固定构件中的信号端子；测试构件，连接所述测试端子。
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