[发明专利]几何校正模体、重建图像几何参数的确定方法和装置在审
| 申请号： | 201910641766.0 | 申请日： | 2019-07-16 |
| 公开（公告）号： | CN110353713A | 公开（公告）日： | 2019-10-22 |
| 发明（设计）人： | 闫晶;崔凯;冷官冀;陆学飞;冯娟 | 申请（专利权）人： | 上海联影医疗科技有限公司 |
| 主分类号： | A61B6/03 | 分类号： | A61B6/03 |
| 代理公司： | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人： | 孟金喆 |
| 地址： | 201807 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明实施例公开了一种几何校正模体、重建图像几何参数的确定方法和装置。该几何校正模体包括：支撑结构、至少一个第一标记点以及多个第二标记点；第一标记点设置于支撑结构的几何中心处；多个第二标记点沿至少两条螺旋线分布在支撑结构上，且通过成像系统在各个角度下扫描第一标记点和多个第二标记点生成的投影图像上的各个第二标记点不重叠，且第一标记点和各个第二标记点不重叠。本发明实施例通过将几何校正模体中的第一标记点设置于支撑结构的几何中心处，多个第二标记点沿至少两条螺旋线分布在支撑结构上，且在各个角度下扫描生成的投影图像上的各个标记点不重叠，以实现获得准确的系统几何参数，保证重建图像质量。 | ||
| 搜索关键词： | 标记点 支撑结构 几何校正 模体 重建图像 不重叠 方法和装置 螺旋线分布 几何参数 几何中心 投影图像 扫描 系统几何参数 成像系统 保证 | ||
【主权项】：
1.一种几何校正模体，其特征在于，包括：支撑结构、至少一个第一标记点以及多个第二标记点；其中，所述支撑结构的材料衰减值小于所述第一标记点和所述第二标记点的材料衰减值；所述第一标记点设置于所述支撑结构的几何中心处；所述多个第二标记点沿至少两条螺旋线分布在所述支撑结构上，且通过成像系统在各个角度下扫描所述第一标记点和所述多个第二标记点生成的投影图像上的各个所述第二标记点不重叠，且所述第一标记点和所述各个第二标记点不重叠。
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