[发明专利]全谱精修测定β-磷酸三钙中羟基磷灰石含量的方法有效
| 申请号： | 201910627367.9 | 申请日： | 2019-07-12 |
| 公开（公告）号： | CN110243850B | 公开（公告）日： | 2022-02-25 |
| 发明（设计）人： | 饶群力 | 申请（专利权）人： | 上海交通大学 |
| 主分类号： | G01N23/207 | 分类号： | G01N23/207 |
| 代理公司： | 上海交达专利事务所 31201 | 代理人： | 王毓理;王锡麟 |
| 地址： | 200240 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 一种全谱精修测定β‑磷酸三钙中羟基磷灰石含量的方法，通过将混有HA的β‑TCP样品进行X射线衍射测量得到高分辨率衍射谱，以β‑TCP晶体和HA晶体的原子空间结构为模板构造晶胞参数和晶体结构模型，再以结构模型为约束条件对高分辨率衍射谱中的每一个衍射峰在全谱范围进行β‑TCP中的杂质定性检测和HA全谱拟合定量检测。本发明基于对样品物相组成的正确分析以及对物相组分构建合理的晶体结构，再以衍射谱图上的全部衍射峰作为考量对象，综合考察被测样品中每一个物相衍射花样的整体状况，通过Rietvelt方法进行数据处理的一种高精度定量方法。 | ||
| 搜索关键词： | 全谱精修 测定 磷酸 三钙中 羟基 磷灰石 含量 方法 | ||
【主权项】：
1.一种全谱精修测定β‑磷酸三钙中羟基磷灰石含量的方法，其特征在于，通过将混有HA的β‑TCP样品进行X射线衍射测量得到高分辨率衍射谱，以β‑TCP晶体和HA晶体的原子空间结构为模板构造晶胞参数和晶体结构模型，再以结构模型为约束条件对高分辨率衍射谱中的每一个衍射峰在全谱范围进行β‑TCP中的杂质定性检测和HA全谱拟合定量检测。
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