[发明专利]一种光量子交换机插损测量系统与测量方法在审
| 申请号： | 201910597275.0 | 申请日： | 2019-07-04 |
| 公开（公告）号： | CN112179621A | 公开（公告）日： | 2021-01-05 |
| 发明（设计）人： | 不公告发明人 | 申请（专利权）人： | 北京中创为南京量子通信技术有限公司 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02;H04Q11/00 |
| 代理公司： | 南京纵横知识产权代理有限公司 32224 | 代理人： | 董成 |
| 地址： | 210000 江苏省南京市浦口区江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本申请提供一种光量子交换机插损测量系统与测量方法，其中测量系统包括光源、分束器、第一光功率计、上位机以及第二光功率计；所述光源与所述分束器光学连接；所述分束器分别光学连接于所述第一光功率计的进口端以及待测光量子交换机的进口端；所述第二光功率计光学连接于待测光量子交换机的出口端；所述上位机通过数据接口分别与所述第一光功率计、所述第二光功率计以及待测光量子交换机连接。本申请能够通过上位机自动计算待测光量子交换机的各通道插损，测量效率高，大大缩短了测量时间，同时避免了光纤头的多次插拔，进一步消除了光纤头被污染的风险，测量更加准确。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 光量子 交换机 测量 系统 测量方法 | ||
【主权项】：
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