[发明专利]X射线光栅综合成像信息提取方法、系统及存储介质有效

专利信息
申请号: 201910593224.0 申请日: 2019-07-02
公开(公告)号: CN110197486B 公开(公告)日: 2021-04-06
发明(设计)人: 张丽;高河伟;吴承鹏;邢宇翔 申请(专利权)人: 清华大学
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00;A61B6/00;G01N23/041;G01N23/083
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 李永叶
地址: 100084*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 一种X射线光栅综合成像信息提取方法、系统及存储介质,方法包括:对背景位移曲线进行平移变换使得最大值位于中心位置,同时对物体位移曲线平移相同距离;将平移变换后的背景位移曲线表示为余弦函数模型;基于背景位移曲线和物体位移曲线的卷积关系,得到傅里叶空间中小角散射分布的零阶矩、归一化一阶矩和归一化二阶中心矩,分别对应吸收、相衬和暗场三种对比度信息,其中,归一化一阶矩和归一化二阶中心矩中的核函数为广义核函数,基于位移曲线具有的积分特性获得。该方法极大地拓宽了核函数的选取范围和自由度,在保证和原有核函数直接计算多阶矩方法一样具有很快的计算速度的前提下还提供了更大的自由度来挑选出针对实际应用最合适的核函数。
搜索关键词: 射线 光栅 综合 成像 信息 提取 方法 系统 存储 介质
【主权项】:
1.一种X射线光栅综合成像信息提取方法,其特征在于,包括:获取背景位移曲线和相应的物体位移曲线;对背景位移曲线进行平移变换使得最大值位于中心位置,同时对物体位移曲线平移相同距离;将平移变换后的背景位移曲线表示为余弦函数模型;将平移变换后的物体位移曲线表示为平移变换后的背景位移曲线和小角散射分布的卷积;基于上述卷积关系,按照卷积的傅里叶变换性质得到傅里叶空间中小角散射分布的零阶矩、归一化一阶矩和归一化二阶中心矩,分别对应吸收、相衬和暗场三种对比度信息,其中,归一化一阶矩和归一化二阶中心矩中的核函数为广义核函数,该广义核函数是基于物体位移曲线和背景位移曲线具有的积分特性获得的,该积分特性为:物体位移曲线或背景位移曲线与任意一个函数的内积只包含其傅里叶级数中的零阶项和一阶项。
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