[发明专利]具有保护功能的直流断路器半导体组件关断能力测试回路有效
| 申请号： | 201910589708.8 | 申请日： | 2019-07-02 |
| 公开（公告）号： | CN110286320B | 公开（公告）日： | 2021-06-29 |
| 发明（设计）人： | 齐磊;东野忠昊;刘珂鑫;张午宇;魏晓光;王成昊 | 申请（专利权）人： | 华北电力大学;全球能源互联网研究院有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/327 | 分类号： | G01R31/327;G01R31/26 |
| 代理公司： | 北京众合诚成知识产权代理有限公司 11246 | 代理人： | 张文宝 |
| 地址： | 102206 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了属于直流断路器性能测试装置范围的一种具有保护功能的直流断路器半导体组件关断能力测试回路。包括预充电单元、测试电流产生单元、晶闸管触发单元、保护单元、被测半导体组件以及吸能单元。其中：预充电单元与测试电流产生单元，并与电感L1连接组成LC振荡回路，从而产生测试电流；保护单元仅用一个二级管反并联在主回路晶闸管两端；能够限制电抗器由于晶闸管反向恢复过程而承受的电压过冲；吸能单元为一滑动电阻器，并联在被测半导体组件两端。本发明具有测试多种半导体组件的电流关断能力的特点，并且能够防止由于电压过冲造成电抗器绝缘击穿，有效地保护测试用电抗器。 | ||
| 搜索关键词： | 具有 保护 功能 直流 断路器 半导体 组件 能力 测试 回路 | ||
【主权项】：
1.一种具有保护功能的直流断路器半导体组件关断能力测试回路，其特征在于，该具有保护功能的直流断路器半导体组件关断能力测试回路包括预充电单元、测试电流产生单元、晶闸管触发单元、保护单元、被测半导体组件以及吸能单元，其中：预充电单元由一个直流电源串联第一机械开关S1组成；测试电流产生单元为在第二机械开关S2串联电阻R1后并联电容器C1组成，并与电感L1连接组成LC振荡回路，从而产生测试电流；保护单元仅用一个二级管反并联在主回路晶闸管两端；能够限制电抗器由于晶闸管反向恢复过程而承受的电压过冲；吸能单元为一滑动电阻器，并联在被测半导体组件两端；被测半导体组件包含IGBT直串结构、二极管全桥结构以及IGBT全桥结构。
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