[发明专利]差分馈电对数周期天线的反射系数测试装置及测试方法有效
| 申请号： | 201910575343.3 | 申请日： | 2019-06-28 |
| 公开（公告）号： | CN110320412B | 公开（公告）日： | 2021-05-18 |
| 发明（设计）人： | 邹文慢;金谋平;方佳;张小林;曹锐;王泉;陶小辉 | 申请（专利权）人： | 中国电子科技集团公司第三十八研究所 |
| 主分类号： | G01R29/10 | 分类号： | G01R29/10 |
| 代理公司： | 合肥市浩智运专利代理事务所(普通合伙) 34124 | 代理人： | 毛雪娇 |
| 地址： | 230000 安徽省合*** | 国省代码： | 安徽;34 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种差分馈电对数周期天线的反射系数测试装置及测试方法，涉及天线测试领域，该测试装置包括底盘、差分馈电端口对；底盘采用金属导体；差分馈电端口对的数量与差分馈电对数周期天线的极化数相等，每个差分馈电端口对对应一个极化的差分馈电对数周期天线，每个差分馈电端口对包括两个差分馈电端口；各差分馈电端口对的两个差分馈电端口的外导体分别连接底盘，各差分馈电端口对的两个差分馈电端口的内导体分别连接差分馈电对数周期天线的两个馈电线。本发明的优点在于：反射系数测试装置可以测试差分馈电对数周期天线的差分信号，通过将测得的差分信号进行合成，可以得到差分馈电对数周期天线的端口反射系数。 | ||
| 搜索关键词： | 馈电 对数 周期 天线 反射 系数 测试 装置 方法 | ||
【主权项】：
1.一种差分馈电对数周期天线的反射系数测试装置，其特征在于：包括底盘(1)、差分馈电端口对(2)；底盘(1)采用金属导体；差分馈电端口对(2)的数量与差分馈电对数周期天线的极化数相等，每个差分馈电端口对(2)对应一个极化的差分馈电对数周期天线，每个差分馈电端口对(2)包括两个差分馈电端口；各差分馈电端口对(2)的两个差分馈电端口的外导体分别连接底盘(1)，各差分馈电端口对(2)的两个差分馈电端口的内导体分别连接差分馈电对数周期天线的两个馈电线。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国电子科技集团公司第三十八研究所，未经中国电子科技集团公司第三十八研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201910575343.3/，转载请声明来源钻瓜专利网。
