[发明专利]一种液态硅中气泡CVD法生长晶体硅的方法在审

专利信息
申请号: 201910565864.0 申请日: 2019-06-17
公开(公告)号: CN110205676A 公开(公告)日: 2019-09-06
发明(设计)人: 刘建军 申请(专利权)人: 刘建军
主分类号: C30B29/06 分类号: C30B29/06;C30B28/14
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 471000 河南省洛阳市高新*** 国省代码: 河南;41
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摘要: 一种液态硅中气泡CVD法生长晶体硅的方法,涉及人工晶体技术领域,本发明通过在坩埚(4)中设置硅熔液(5),然后将三氯氢硅和氢气通过气体分流器(9)从坩埚的中下部或底部进入到熔化的硅熔液中形成若干个气泡,在气泡内氢气还原三氯氢硅生成硅,本发明具有生产效率高、能耗低、成本低等优点,本发明具有生产效率高、能耗低、成本低等优点,是替代现有多晶硅还原生长的有效方法,适合大范围的推广和应用。
搜索关键词: 三氯氢硅 生产效率 硅熔液 晶体硅 液态硅 坩埚 生长 能耗 熔化 气体分流器 氢气还原 人工晶体 氢气 多晶硅 还原 替代 应用
【主权项】:
1.一种液态硅中气泡CVD法生长晶体硅的方法,其特征是:所述方法包括如下步骤:第一步、熔化晶体硅熔液:首先将晶体硅碎料放入到晶体硅生长装置中的坩埚(4)内,然后启动电源,通过发热体(3)对坩埚(4)进行加热,将坩埚(4)内的晶体硅熔化成硅熔液(5);第二步、生成晶体硅:接上步、开启气源,气源中的三氯氢硅和氢气通过气体分流器(9)从坩埚(4)的中下部或底部进入到熔化的硅熔液(5)中形成若干个气泡,在气泡内氢气还原三氯氢硅生成硅,气泡到达硅熔液(5)顶部时,气泡破裂后生成的硅在硅熔液(5)表面堆积。
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