[发明专利]电源的老化测试系统及方法在审
| 申请号： | 201910565823.1 | 申请日： | 2019-06-26 |
| 公开（公告）号： | CN110208720A | 公开（公告）日： | 2019-09-06 |
| 发明（设计）人： | 梁远文;黄维;何富荣 | 申请（专利权）人： | 深圳市鼎泰佳创科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/40 | 分类号： | G01R31/40 |
| 代理公司： | 深圳中细软知识产权代理有限公司 44528 | 代理人： | 安秀梅 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市光明新区公明街道*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本申请公开了一种电源的老化测试系统及方法，该系统包括测试装置，所述测试装置上设置有多个待测产品，每个所述待测产品包括至少两路电源输出；所述多个待测产品按照行、列分布组成矩阵，所述矩阵中每一行的所述待测产品的一路电源输出依次串联后形成一路串联输出回路，所述矩阵中每一列的所述待测产品的一路电源输出依次串联后形成一路串联输出回路，每个所述一路串联输出回路分别与一个老化测试负载电连接，以形成对所述一路串联输出回路的老化测试。通过上述电源的老化测试系统，能够提升电源的老化测试的测试效率，并且降低成本。 | ||
| 搜索关键词： | 待测产品 输出回路 矩阵 老化测试系统 串联 电源输出 老化测试 电源 测试装置 依次串联 测试效率 电连接 两路 申请 | ||
【主权项】：
1.一种电源的老化测试系统，其特征在于，包括测试装置，所述测试装置上设置有多个待测产品，每个所述待测产品包括至少两路电源输出；所述多个待测产品按照行、列分布组成矩阵，所述矩阵中每一行的所述待测产品的一路电源输出依次串联后形成一路串联输出回路，所述矩阵中每一列的所述待测产品的一路电源输出依次串联后形成一路串联输出回路，每个所述一路串联输出回路分别与一个老化测试负载电连接，以形成对所述一路串联输出回路的老化测试。
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