[发明专利]一种晶圆键合的设备及方法有效
申请号: | 201910528673.7 | 申请日: | 2019-06-18 |
公开(公告)号: | CN110246771B | 公开(公告)日: | 2021-06-15 |
发明(设计)人: | 陶超 | 申请(专利权)人: | 武汉新芯集成电路制造有限公司 |
主分类号: | H01L21/60 | 分类号: | H01L21/60;H01L21/68 |
代理公司: | 上海申新律师事务所 31272 | 代理人: | 俞涤炯 |
地址: | 430205 湖北*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | 本发明涉及半导体制造技术领域,尤其涉及一种晶圆键合的设备,包括:仅可沿X轴、Y轴方向移动的第一固定装置,用于固定待键合的第一晶圆,第一晶圆上设有一第一校准标志;参照标志,设置于第一固定装置上;可沿X轴、Y轴、Z轴方向移动的第二固定装置,与第一固定装置相对设置;旋转装置,设置于第二固定装置朝向第一固定装置的一面,用于固定待键合的一第二晶圆,第二晶圆上设有一第二校准标志;对相对设置且可同步的沿X轴、Y轴、Z轴移动的图像采集装置,分别用于采集第一校准标志和第二校准标志;一参照标志采集装置,用于读取参照标志。有益效果:可以确保图像采集装置同时清晰的采集到第一校准标志和第二校准标志,提高晶圆键合精度。 | ||
搜索关键词: | 一种 晶圆键合 设备 方法 | ||
【主权项】:
1.一种晶圆键合的设备,其特征在于,包括:一仅可沿X轴、Y轴方向移动的第一固定装置,用于使一待键合的第一晶圆键合面朝下的固定于所述第一固定装置上,所述第一晶圆上设有一第一校准标志;一参照标志,设置于所述第一固定装置上;一可沿X轴、Y轴、Z轴方向移动的第二固定装置,与所述第一固定装置相对设置;一旋转装置,设置于所述第二固定装置朝向所述第一固定装置的一面,用于固定待键合的一第二晶圆,所述第二晶圆上设有一第二校准标志;一对相对设置,且可同步的沿X轴、Y轴、Z轴移动的图像采集装置,分别用于采集所述第一校准标志和所述第二校准标志,以使所述第一晶圆和所述第二晶圆对准;一参照标志采集装置,用于读取所述参照标志,从而采集所述第一固定装置的实时位置作为一参照坐标。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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