[发明专利]显示基板、显示装置及晶体管的性能测试方法在审
| 申请号： | 201910523478.5 | 申请日： | 2019-06-17 |
| 公开（公告）号： | CN112103199A | 公开（公告）日： | 2020-12-18 |
| 发明（设计）人： | 吴海龙;袁剑峰;邵喜斌 | 申请（专利权）人： | 京东方科技集团股份有限公司;重庆京东方光电科技有限公司 |
| 主分类号： | H01L21/66 | 分类号： | H01L21/66;H01L23/544 |
| 代理公司： | 北京三高永信知识产权代理有限责任公司 11138 | 代理人： | 杨广宇 |
| 地址： | 100015 *** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种显示基板、显示装置及晶体管的性能测试方法，属于显示技术领域。本发明提供的显示基板包括：驱动晶体管，监测晶体管，以及位于显示基板封装区域之外的至少三个测试端；该驱动晶体管用于驱动像素单元显示；该监测晶体管的结构与驱动晶体管的结构相同，且监测晶体管的三个电极与三个测试端一一对应连接，每个测试端用于连接测试设备。本发明提供的显示基板中的测试端与测试设备连接的过程中，可以避免划伤显示基板，提高了显示基板的良率。 | ||
| 搜索关键词： | 显示 显示装置 晶体管 性能 测试 方法 | ||
【主权项】：
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理；集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理；集成电路器件或其特殊部件的制造
