[发明专利]一种低缺陷密度LED外延结构及其制作方法有效

专利信息
申请号: 201910515852.7 申请日: 2019-06-14
公开(公告)号: CN110190160B 公开(公告)日: 2020-11-20
发明(设计)人: 滕龙;霍丽艳;林加城;谢祥彬;刘兆 申请(专利权)人: 江西乾照光电有限公司
主分类号: H01L33/00 分类号: H01L33/00;H01L33/06
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 温可睿
地址: 330103 江西省南*** 国省代码: 江西;36
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摘要: 本申请公开一种低缺陷密度LED外延结构及其制作方法,通过改变第一型半导体层生长过程中的气氛H2气体流量组分,通过气体流量变化的H2对外延层界面处进行处理,得到表面态较好的外延结构,提高LED的晶体形貌,从而能够减少晶体缺陷,减少载流子的非辐射复合几率,提高发光效率。同时,通过H2气体流量的增加可以减少C杂质的并入,减少载流子的散射机率,提高载流子的迁移率,提高电子空穴的辐射复合机率。
搜索关键词: 一种 缺陷 密度 led 外延 结构 及其 制作方法
【主权项】:
1.一种低缺陷密度LED外延结构的制作方法,其特征在于,包括:提供衬底;在所述衬底上依次形成非掺杂层、第一型半导体层、多量子阱层、第二型半导体层;其中,所述第一型半导体层的形成采用氮气和氢气的生长气氛,且所述氮气和氢气生长气氛中,气体总流量不变,氮气和氢气的单组分流量变化。
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