[发明专利]一种用于MCU芯片的全自动测试系统有效
| 申请号： | 201910512684.6 | 申请日： | 2019-06-13 |
| 公开（公告）号： | CN110275805B | 公开（公告）日： | 2023-07-07 |
| 发明（设计）人： | 邓建;秦岭 | 申请（专利权）人： | 上海琪埔维半导体有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22;G06F11/273 |
| 代理公司： | 上海申新律师事务所 31272 | 代理人： | 俞涤炯 |
| 地址： | 200120 上海市浦东新区中国*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明涉及集成电路技术领域，尤其涉及一种用于MCU芯片的全自动测试系统，包括：计算机；外供直流电源，外供直流电源为测试主板提供电源电压；测试主板分别连接计算机与外供直流电源，测试主板包括：主控芯片，主控芯片用于控制测试系统的自动化执行；被测MCU芯片，被测MCU芯片接收主控芯片的调度，并配合执行测试系统的复数个测试项；复数个执行测试单元，分别连接于主控芯片与被测MCU芯片之间，复数个执行测试单元用于分别测试复数个测试项，并由主控芯片将对应的测试数据存储至计算机。有益效果：通过采用硬件设计与软件控制的结合方式，启动测试后软件自动执行完成所有的测试，测试过程中不需要人工参与，节省了人力和时间，提高了工作效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 mcu 芯片 全自动 测试 系统 | ||
【主权项】：
1.一种用于MCU芯片的全自动测试系统，其特征在于，包括：一计算机；一外供直流电源，所述外供直流电源为测试主板提供电源电压；所述测试主板分别连接所述计算机与所述外供直流电源，所述测试主板包括：一主控芯片，所述主控芯片用于控制所述测试系统；一被测MCU芯片，所述被测MCU芯片用于接收所述主控芯片的调度，并配合执行所述测试系统的复数个测试项；复数个执行测试单元，分别连接于所述主控芯片与所述被测MCU芯片之间，复数个所述执行测试单元用于分别测试复数个所述测试项，并由所述主控芯片将对应的测试数据存储至所述计算机。
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