[发明专利]一种扫描雷达快速超分辨成像方法有效
| 申请号： | 201910496264.3 | 申请日： | 2019-06-10 |
| 公开（公告）号： | CN110109098B | 公开（公告）日： | 2021-01-26 |
| 发明（设计）人： | 张寅;庹兴宇;毛德庆;张文涛;张永超;裴季方;黄钰林;郭德明;杨建宇 | 申请（专利权）人： | 电子科技大学 |
| 主分类号： | G01S13/89 | 分类号： | G01S13/89 |
| 代理公司： | 成都虹盛汇泉专利代理有限公司 51268 | 代理人： | 王伟 |
| 地址： | 611731 四川省成*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种扫描雷达快速超分辨成像方法，属于雷达成像领域。本发明用于提升现有扫描雷达超分辨成像方法的成像处理效率，首先基于扫描雷达方位向回波卷积模型，采用低秩随机矩阵对天线方向图测量矩阵维数进行压缩；其次，对压缩测量矩阵进行正交化获得正交基向量，获得天线测量矩阵的广义逆；最后利用该广义逆对卷积反演问题进行快速求解，实现扫描雷达前视目标的超分辨成像。与传统超分辨成像方法相比，本发明方法能够在保持超分辨成像性能的同时，提高成像处理的运算效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 扫描 雷达 快速 分辨 成像 方法 | ||
【主权项】：
1.一种扫描雷达快速超分辨成像方法，其特征在于，包括以下步骤：S1、发射线性调频信号，接收回波信号，并对所述回波信号进行脉冲压缩和距离走动校正，得到脉冲压缩和距离走动校正后的回波信号；S2、将回波信号转化为由目标散射系数和天线测量矩阵构成的卷积形式；S3、通过压缩测量矩阵对所述天线测量矩阵进行维数压缩，对所述压缩测量矩阵进行分解得到所述压缩测量矩阵的正交基向量矩阵；S4、基于所述正交基向量矩阵对所述天线测量矩阵进行信息提取，得到所述天线测量矩阵的广义逆矩阵；S5、基于代数求逆进行反演成像，得到超分辨成像结果。
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