[发明专利]一种角锥棱镜光学顶点的测量方法有效
| 申请号： | 201910495513.7 | 申请日： | 2019-06-10 |
| 公开（公告）号： | CN110207587B | 公开（公告）日： | 2020-12-01 |
| 发明（设计）人： | 缪寅宵;宋金城;刘柯;郭力振;朱浩 | 申请（专利权）人： | 北京航天计量测试技术研究所;中国运载火箭技术研究院 |
| 主分类号： | G01B11/00 | 分类号： | G01B11/00;G01M11/02 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 100076 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及精密工程测量技术领域，公开了一种角锥棱镜光学顶点测量装置和测量方法，角锥棱镜光学顶点测量装置包括沿同一光路依次设置的激光测距模块、分光镜和角锥棱镜；激光测距模块用于发射测量光，并测量与角锥棱镜的光学顶点之间的距离；分光镜的第一分光面的反射光路上设置有第二反射镜，分光镜的第一分光面相对激光测距模块的透射光路上设有角锥棱镜；分光镜的第一分光面相对第二反射镜的透射光路上设有位置敏感器件，同时位置敏感器件也位于分光镜的第二分光面的反射光路上。本发明利用角锥棱镜光学顶点测量装置，使其应能够应用于激光跟踪仪测量系统中角锥棱镜基准尺的校准过程，实现对角锥棱镜光学顶点空间位置进行精确定位和测量。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 棱镜 光学 顶点 测量方法 | ||
【主权项】：
1.一种角锥棱镜光学顶点测量装置，其特征在于，包括：沿同一光路依次设置的激光测距模块、分光镜和角锥棱镜；所述激光测距模块用于发射测量光，并测量与所述角锥棱镜的光学顶点之间的距离；所述分光镜的第一分光面的反射光路上设置有第二反射镜，所述分光镜的第一分光面相对所述激光测距模块的透射光路上设有所述角锥棱镜；所述分光镜的第一分光面相对所述第二反射镜的透射光路上设有位置敏感器件，同时所述位置敏感器件位于所述分光镜的第二分光面相对所述角锥棱镜的反射光路上。
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