[发明专利]套刻对准标记的制备方法及其结构有效
申请号: | 201910470028.4 | 申请日: | 2019-05-31 |
公开(公告)号: | CN112018082B | 公开(公告)日: | 2022-06-24 |
发明(设计)人: | 曹海东 | 申请(专利权)人: | 芯恩(青岛)集成电路有限公司 |
主分类号: | H01L23/544 | 分类号: | H01L23/544 |
代理公司: | 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 | 代理人: | 余明伟 |
地址: | 266000 山东省青岛市*** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | 本发明提供一种套刻对准标记的制备方法及其结构,套刻对准标记包括:金属标记及当层标记;金属标记作为前层标记,金属标记贯穿薄膜结构且金属标记的底部位于衬底中,衬底包括衬底第一表面及对应设置的衬底第二表面,薄膜结构位于衬底第一表面上;当层标记位于衬底第二表面上。本发明通过金属标记作为前层标记,以提高前层标记对红外线的信号强度,以降低套刻对准标记的量测误差,从而提高OVL,提高光刻精准度,提高产品质量;金属标记在形成金属互联结构的同时形成,还可进一步的降低成本。 | ||
搜索关键词: | 对准 标记 制备 方法 及其 结构 | ||
【主权项】:
暂无信息
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