[发明专利]基于锁相光子计数技术的并行激励扩散光学层析成像装置在审
| 申请号： | 201910450243.8 | 申请日： | 2019-05-27 |
| 公开（公告）号： | CN110123281A | 公开（公告）日： | 2019-08-16 |
| 发明（设计）人： | 高峰;何向东;谢锦斌;张丽敏;周仲兴;李娇 | 申请（专利权）人： | 天津大学 |
| 主分类号： | A61B5/00 | 分类号： | A61B5/00;G01N21/39;G01N21/47 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 张宇园 |
| 地址： | 300072*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | 一种基于锁相光子计数技术的并行激励扩散光学层析成像装置和方法。其中该装置包括可调制光源单元，用于发出恒功率调幅激光；源‑探布配阵列单元，用于将可调制光源单元发射的调幅激光传导至待测组织表面并将待测组织体表面溢出的光信号传导至探测单元；探测单元，用于接收待测组织表面的反射光，并将光信号等比例转化成电脉冲信号；控制与数据处理单元，用于对接收的电脉冲信号计数解调，光学参数的空间分布图像重建，以及产生光源调制信号和源‑探布配阵列单元测量通道的选通；其中，可调制光源单元和探测单元均采用源探光纤二合一的同轴光纤结构，依靠控制与数据处理单元指令及开关的选择实现源‑探布配阵列单元中源探光纤的分时复用。 | ||
| 搜索关键词： | 可调制光源 探测单元 阵列单元 布配 扩散光学层析成像 数据处理单元 调幅 计数技术 组织表面 光子 并行 光纤 成电脉冲信号 空间分布图像 电脉冲信号 测量通道 分时复用 光学参数 光源调制 激光传导 同轴光纤 信号传导 二合一 反射光 恒功率 组织体 解调 选通 溢出 激光 指令 发射 重建 转化 | ||
【主权项】：
1.一种基于锁相光子计数技术的并行激励扩散光学层析成像装置，包括：可调制光源单元，用于发出恒功率调幅激光；源‑探布配阵列单元，用于将可调制光源单元发射的所述调幅激光传导至待测组织表面并将待测组织体表面溢出的光信号传导至探测单元；探测单元，用于接收待测组织表面的反射光，并将光信号等比例转化成电脉冲信号；控制与数据处理单元，用于对接收的电脉冲信号计数解调，光学参数的空间分布图像重建，以及产生光源调制信号和源‑探布配阵列单元测量通道的选通；其中，所述的可调制光源单元和探测单元均采用源探光纤二合一的同轴光纤结构，依靠控制与数据处理单元指令及开关的选择实现源‑探布配阵列单元中源探光纤的分时复用。
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