[发明专利]推力器羽流参数测量系统、方法及装置有效
| 申请号: | 201910448633.1 | 申请日: | 2019-05-28 |
| 公开(公告)号: | CN110132606B | 公开(公告)日: | 2020-06-19 |
| 发明(设计)人: | 蔡国飙;杨哲;韩木天;翁惠焱 | 申请(专利权)人: | 北京航空航天大学 |
| 主分类号: | G01M15/14 | 分类号: | G01M15/14 |
| 代理公司: | 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 | 代理人: | 唐维虎 |
| 地址: | 100000*** | 国省代码: | 北京;11 |
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| 摘要: | 本申请提供一种推力器羽流参数测量系统、方法及装置。本申请将两根收集探针相对于待测推力器的中轴线对称设置,并将两根收集探针的粒子收集侧面相向设置且与待测推力器的离子喷射口所在的平面垂直。本申请通过扫描电源使两根收集探针之间形成电场,并通过形成的电场对待测推力器产生的离子体羽流进行粒子收集,以提高粒子收集能力及羽流参数测量准确度。本申请通过采集设备采集两个粒子收集侧面之间的电压及电流,并由计算设备根据采集到的与两根收集探针之间的电场存在关联关系的电压与电流计算得到多种羽流参数,以通过得到的各项羽流参数精准地确定出待测推力器的羽流流场特性,为评估推力器性能和保证航天器安全提供数据支持。 | ||
| 搜索关键词: | 推力 器羽流 参数 测量 系统 方法 装置 | ||
【主权项】:
1.一种推力器羽流参数测量系统,其特征在于,所述系统包括扫描电源、采集设备、计算设备及两根收集探针,其中两根所述收集探针相对于待测推力器的中轴线对称设置,两根所述收集探针各自的粒子收集侧面相向设置并与所述待测推力器的离子喷射口所在的平面垂直;所述扫描电源的正负极各自连接一根所述收集探针,用于为所述收集探针提供扫描电压,以通过两根所述收集探针之间形成的电场对所述待测推力器产生的离子体羽流进行粒子收集;所述采集设备与两根所述收集探针连接,用于采集粒子收集过程中的两个所述粒子收集侧面之间的电压及电流;所述计算设备与所述采集设备连接,用于根据采集到的两个所述粒子收集侧面之间的电压及电流计算得到所述待测推力器所对应的羽流参数,其中所述羽流参数包括电子温度、离子数密度、离子流速及空间电位。
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