[发明专利]位置控制装置、位置控制方法以及超声波影像系统在审
| 申请号： | 201910426464.1 | 申请日： | 2019-05-22 |
| 公开（公告）号： | CN110530986A | 公开（公告）日： | 2019-12-03 |
| 发明（设计）人： | 北见薰;大野茂;住川健太;村井正胜 | 申请（专利权）人： | 株式会社日立电力解决方案 |
| 主分类号： | G01N29/06 | 分类号： | G01N29/06;G01N29/265 |
| 代理公司： | 11038 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人： | 金光华<国际申请>=<国际公布>=<进入 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 提供一种位置控制装置、位置控制方法以及超声波影像系统，即使在检查厚的被检体的情况下也能够在期望的检查对象面取得高分辨率的检查图像。位置控制装置具备决定第1超声波探测部以及第2超声波探测部的位置的处理部，该第1超声波探测部向被检体发送超声波，该第2超声波探测部与所述第1超声波探测部对置地配置，接收透射所述被检体的透射信号。在将与所述被检体的表面垂直的方向设为±Z方向、将与所述±Z方向正交的方向设为±X方向、将与所述±Z方向以及所述±X方向正交的方向设为±Y方向的情况下，所述处理部在所述±Z方向上决定所述第1超声波探测部的位置，在所述±Z方向上决定所述第2超声波探测部的位置。 | ||
| 搜索关键词： | 超声波探测 被检体 位置控制装置 方向正交 超声波影像 表面垂直 高分辨率 检查对象 检查图像 透射信号 位置控制 超声波 对置 透射 发送 期望 配置 检查 | ||
【主权项】：
1.一种超声波影像系统，其特征在于，具备：/n第1超声波探测部，向被检体发送超声波；/n第2超声波探测部，与所述第1超声波探测部隔着所述被检体而在上方或者下方对置地配置，接收透射所述被检体的透射信号；/n位置控制装置，决定所述第1超声波探测部及所述第2超声波探测部的位置；/n控制装置，将所述第1超声波探测部及所述第2超声波探测部控制到所述位置控制装置决定的位置；以及/n显示装置，对所述被检体中的检查对象面进行影像化，/n在将与所述被检体的表面垂直的方向设为±Z方向、将与所述±Z方向正交的方向设为±X方向、将与所述±Z方向以及所述±X方向正交的方向设为±Y方向的情况下，/n所述位置控制装置进行：/n在所述±Z方向上决定所述第1超声波探测部的位置的处理；以及/n在所述±Z方向上决定所述第2超声波探测部的位置的处理。/n
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