[发明专利]用于对激光源、探测器、光学器件测试的装置及其测试方法

摘要

本发明公开了一种用于对激光源、探测器、光学器件测试的装置及其测试方法，该装置包括测试电路，测试电路中的控制器能够与人机交换设备相连接，测试电路中包括能够与单光子探测器设备上的相应端口相连接的时钟驱动器、输入比较器、分光器以对单光子探测器设备进行测试，还包括能对激光源进行测试的激光发射电路、对单光子探测器设备中的单光子APD管以及APD管、PIN管进行响应度测试的相应电路，并能够测试出APD管和PIN管的温度‑响应度曲线、光强‑响应度曲线以及APD管的反向偏置电压‑响应度曲线。本发明的装置及其测试方法能够覆盖现有的常用测试，且能保障测试合格的激光源、探测器、光学器件可靠应用于量子保密通信领域。

主权项

1.一种用于对激光源、探测器、光学器件测试的装置，包括测试电路，其特征在于：所述的测试电路包括控制器、时钟驱动器、输入比较器以及分光器，所述控制器上设置有能够与人机交换设备相连接的端口，在时钟驱动器、输入比较器、分光器上分别设置有与单光子探测器设备相连接的端口，控制器还通过线路依次与输出比较器和时钟驱动器相连接，且控制器通过输出比较器和时钟驱动器向单光子探测器设备的同步时钟信号输入端口输入同步时钟信号，所述的时钟驱动器通过线路与时间位置测量单元相连接以输出同步时钟信号至时间位置测量单元；所述的控制器通过线路依次与时间位置测量单元、1:2时钟驱动器、输入比较器相连接，且1:2时钟驱动器直接通过线路与控制器相连接，输入比较器上的计数信号接收端口能够接收单光子探测器设备输出的计数信号，1:2时钟驱动器接收输入比较器输出的电平信号，1:2时钟驱动器发出的时钟信号一路通过时间位置测量单元输出至控制器、另一路直接输出至控制器；所述的控制器依次与激光发射电路和VOA以及分光器相连接，且所述的控制器通过VOA衰减电路与VOA相连接，控制器能够通过对激光发射电路和VOA的控制，使分光器与单光子探测器设备连接的输出端口能够输出单光子；所述的分光器还通过线路与单光子APD夹具相连接，该单光子APD夹具通过相连接的I/V转换电路和ADC采样电路与控制器连接、通过相连接的DAC电路和高压控制电路与控制器连接、通过温度控制及采样电路与控制器连接，控制器通过温度控制及采样电路控制单光子APD夹具上的待测设备的温度，其中温度控制及采样电路还对待测设备的实时温度进行采样，控制器获得由单光子APD夹具上的待测设备因加载光产生的电流信号并经过I/V转换电路和ADC采样电路变换后得到的数字信号，高压控制电路根据接收的DAC电路输出信号向单光子APD夹具上的待测设备加载反向偏置电压；所述的激光发射电路包括窄脉冲调节电路、DFB激光器驱动电路和DFB激光器夹具，所述的控制器、窄脉冲调节电路、DFB激光器驱动电路通过线路依次相连接，且控制器通过线路直接与DFB激光器驱动电路相连接，DFB激光器驱动电路分别与DFB激光器夹具上的DFB激光器的RF‑端、DC‑端相连接，DFB激光器夹具上的DFB激光器能够通过光纤与VOA或者测试仪器相连接。