[发明专利]电脉冲调控激光直接成型β钛合金晶粒尺寸的实验方法在审
申请号: | 201910421127.3 | 申请日: | 2019-05-20 |
公开(公告)号: | CN110181060A | 公开(公告)日: | 2019-08-30 |
发明(设计)人: | 谢乐春;华林;郭豪杰 | 申请(专利权)人: | 武汉理工大学 |
主分类号: | B22F3/24 | 分类号: | B22F3/24;B22F3/105;C22F3/00;G01N15/02;B33Y40/00 |
代理公司: | 湖北武汉永嘉专利代理有限公司 42102 | 代理人: | 唐万荣;程力 |
地址: | 430070 湖*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | 本发明的目的是提供一种电脉冲调控激光直接成型β钛合金晶粒尺寸的实验方法,通过激光直接成型得到立方体的β钛合金,加工出两端面平整的圆柱体的钛合金样品,打磨去除钛合金样品表面的氧化层,将钛合金样品两端面分别与电脉冲处理设备两电极完全接触,调整电脉冲处理设备的电流和作用时间对钛合金样品进行电脉冲处理,将钛合金样品切割并通过热镶嵌法制得金相试样,对金相试样表面进行打磨、抛光、清洗和腐蚀,利用电子探针显微镜和金相显微镜分别表征腐蚀前后的晶粒尺寸大小,分析对比电脉冲处理前后样品晶粒尺寸变化。该方法在效率高、成本低的基础上,能使激光直接成型β钛合金由柱状晶粒尺寸向细小晶粒尺寸转变并取得验证。 | ||
搜索关键词: | 钛合金 激光直接成型 电脉冲处理 晶粒 金相试样 电脉冲 两端面 打磨 金相显微镜 腐蚀 尺寸变化 电子探针 分析对比 完全接触 细小晶粒 样品表面 柱状晶粒 氧化层 电极 抛光 调控 显微镜 去除 切割 清洗 平整 镶嵌 验证 加工 | ||
【主权项】:
1.一种电脉冲调控激光直接成型β钛合金晶粒尺寸的实验方法,其特征在于:包括步骤,1)实验准备及过程—通过激光直接成型得到立方体的β钛合金晶,然后加工出两端面平整的圆柱体的钛合金样品,然后打磨去除钛合金样品表面的氧化层,然后将钛合金样品两端面分别与电脉冲处理设备两电极完全接触,然后调整电脉冲处理设备的电流和作用时间对钛合金样品进行电脉冲处理;2)晶粒尺寸的表征与分析—将电脉冲处理后的钛合金样品切割并通过热镶嵌法制得金相试样,对金相试样表面进行打磨、抛光、清洗和腐蚀后,利用电子探针显微镜表征腐蚀前的晶粒尺寸大小,利用金相显微镜表征腐蚀后样品晶粒尺寸,分析对比电脉冲处理前后样品晶粒尺寸变化。
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