[发明专利]光学检查系统、光学检查方法以及航空器结构体在审
申请号: | 201910343261.6 | 申请日: | 2019-04-26 |
公开(公告)号: | CN110554091A | 公开(公告)日: | 2019-12-10 |
发明(设计)人: | 副岛英树;荻巢敏充 | 申请(专利权)人: | 株式会社斯巴鲁 |
主分类号: | G01N29/14 | 分类号: | G01N29/14;G01B11/02;G01B11/16;G01H9/00 |
代理公司: | 11262 北京安信方达知识产权代理有限公司 | 代理人: | 李薇;杨明钊 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明提供光学检查系统、光学检查方法及航空器结构体。光学检查系统包括:光纤传感器,检测在被检查对象中传播的振动,输出具有与振动的振幅的时间变化对应的波长的时间变化的光信号;光学滤波器,将具有波长的时间变化的光信号变换为具有与波长的时间变化对应的强度的时间变化的光信号并输出;信号处理部,基于具有强度的时间变化的光信号取得被检查对象的检查信息;及校正部,通过使光学滤波器的波长特性变化而校正用于将具有波长的时间变化的光信号变换为具有强度的时间变化的光信号的、光信号的波长的时间变化和光信号的强度的时间变化之间的对应关系。 | ||
搜索关键词: | 波长 光学检查系统 光信号变换 光学滤波器 检查对象 光纤传感器 航空器结构 信号处理部 波长特性 光学检查 检查信息 信号取得 输出 校正部 校正 检测 传播 | ||
【主权项】:
1.一种光学检查系统,包括:/n光纤传感器,其检测在被检查对象中传播的振动或被检查对象的位移,并输出具有与所述振动的振幅的时间变化或所述位移的时间变化对应的波长的时间变化的光信号;/n光学滤波器,其将具有所述波长的时间变化的光信号变换为具有与所述波长的时间变化对应的强度的时间变化的光信号并输出;/n信号处理部,其基于具有所述强度的时间变化的光信号取得所述被检查对象的检查信息;以及/n校正部,其通过使所述光学滤波器的波长特性发生变化,来校正用于将具有所述波长的时间变化的光信号变换为具有所述强度的时间变化的光信号的、所述光信号的波长的时间变化和所述光信号的所述强度的时间变化之间的对应关系。/n
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