[发明专利]使用Alvarez-Macovski衰减模型在断层摄影重建中进行X射线束硬化校正在审
| 申请号： | 201910315600.X | 申请日： | 2019-04-18 |
| 公开（公告）号： | CN110389138A | 公开（公告）日： | 2019-10-29 |
| 发明（设计）人： | Q.杨;G.R.梅尔斯;S.J.莱瑟姆;A.P.谢泼德;A.金斯敦 | 申请（专利权）人： | FEI公司 |
| 主分类号： | G01N23/046 | 分类号： | G01N23/046 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 张凌苗;申屠伟进 |
| 地址： | 美国俄*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 使用Alvarez‑Macovski衰减模型在断层摄影重建中进行X射线束硬化校正。本文所公开的方法和设备使用对Alvarez‑Macovski衰减模型的简化为断层摄影重建提供射束硬化校正。实例方法包括简化前向投影模型，所述前向投影模型基于Alvarez‑Macovski(AM)衰减模型，其中所述简化所述前向投影模型针对仅光电效应、恒定密度、恒定原子序数和密度与原子序数成比例中的一种简化了所述AM衰减模型；以及使用所述简化的前向投影模型执行样品的迭代重建，所述迭代重建通过第一光谱加权，其中在第一能量下获得在所述迭代重建中使用的所述样品的测量图像数据，并且其中所述迭代重建的反向操作非伴随于所述简化前向投影模型。 | ||
| 搜索关键词： | 前向投影 衰减模型 迭代重建 断层摄影 恒定 原子序数 校正 重建 硬化 射束硬化校正 方法和设备 反向操作 光电效应 图像数据 光谱 加权 测量 | ||
【主权项】：
1.一种用于断层摄影图像重建的方法，所述方法包括：简化前向投影模型，所述前向投影模型基于Alvarez‑Macovski(AM)衰减模型，其中所述简化所述前向投影模型针对仅光电效应、恒定密度、恒定原子序数和密度与原子序数成比例中的一种简化了所述AM衰减模型；和使用所述简化的前向投影模型执行样品的迭代重建，所述迭代重建通过第一光谱加权，其中在第一能量下获得在所述迭代重建中使用的所述样品的测量图像数据，并且其中所述迭代重建的反向操作非伴随于所述简化前向投影模型。
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