[发明专利]用于测量角位置的系统以及杂散磁场消除的方法在审

专利信息
申请号: 201910286953.1 申请日: 2019-03-28
公开(公告)号: CN110319766A 公开(公告)日: 2019-10-11
发明(设计)人: 亚普·鲁伊戈罗克;艾德温·沙彭顿克;马金·尼古拉斯·范东恩 申请(专利权)人: 恩智浦有限公司
主分类号: G01B7/30 分类号: G01B7/30;G01R33/09
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 潘军
地址: 荷兰埃因霍温高科*** 国省代码: 荷兰;NL
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摘要: 用于确定角位置的系统包括具有旋转轴的偶极磁体,其中该偶极磁体产生磁场。响应于该磁场,第一磁场传感器产生第一输出信号且第二磁场传感器产生第二输出信号。该磁场传感器以饱和模式操作,其中该磁场传感器在很大程度上对该磁场的场强不敏感。因此,该第一输出信号指示该磁场的第一方向且该第二输出信号指示该磁场的第二方向。由处理电路执行的方法需要组合该第一和第二输出信号以获得该磁体的旋转角值,其中基本上消除来自杂散磁场的角误差。
搜索关键词: 输出信号 磁场 磁场传感器 偶极磁体 杂散磁场 场强 饱和模式 处理电路 不敏感 测量角 角位置 角误差 旋转角 旋转轴 响应
【主权项】:
1.一种系统,其特征在于,包括:具有旋转轴的偶极磁体,所述偶极磁体被配置成产生磁场;第一磁场传感器,所述第一磁场传感器被配置成响应于所述磁场而产生第一输出信号;以及第二磁场传感器,所述第二磁场传感器被配置成响应于所述磁场而产生第二输出信号,所述第一和第二磁场传感器中的每一个被配置成以饱和模式操作,使得所述第一输出信号指示所述磁场的第一方向且所述第二输出信号指示所述磁场的第二方向。
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