[发明专利]温储备方式下胚胎电子细胞阵列可靠性评估方法有效
| 申请号： | 201910265417.3 | 申请日： | 2019-04-03 |
| 公开（公告）号： | CN110010191B | 公开（公告）日： | 2021-01-26 |
| 发明（设计）人： | 蔡金燕;孟亚峰;王涛;朱赛;韩春辉;王利伟 | 申请（专利权）人： | 中国人民解放军陆军工程大学 |
| 主分类号： | G16B5/30 | 分类号： | G16B5/30 |
| 代理公司： | 石家庄轻拓知识产权代理事务所(普通合伙) 13128 | 代理人： | 王占华 |
| 地址： | 050000 河北*** | 国省代码： | 河北;13 |
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| 摘要： |
本发明公开了一种温储备方式下胚胎电子细胞阵列可靠性评估方法，涉及基于生物学模型的计算机系统技术领域。所述方法包括如下步骤：分析胚胎电子细胞阵列工作过程及原理，引入电子细胞故障检测率与故障修复成功率两个参数，基于 |
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| 搜索关键词： | 储备 方式 胚胎 电子 细胞 阵列 可靠性 评估 方法 | ||
【主权项】：
1.一种温储备方式下胚胎电子细胞阵列可靠性评估方法，其特征在于包括如下步骤：引入电子细胞故障检测率p与故障修复成功率q两个参数，基于k‑out‑of‑n温储备系统可靠性理论与非齐次连续时间Markov可靠性理论，建立行移除自修复胚胎电子细胞阵列以及细胞移除自修复胚胎电子细胞阵列的MTTF方程，通过阵列的MTTF方程衡量所述阵列的可靠性。
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