[发明专利]一种相控阵检测辅助装置及系统有效
申请号: | 201910257390.3 | 申请日: | 2019-04-01 |
公开(公告)号: | CN110018237B | 公开(公告)日: | 2022-02-11 |
发明(设计)人: | 汪智敏;韩志雄;桂琳琳;金耀辉;信章春;赵亚军 | 申请(专利权)人: | 武汉中科创新技术股份有限公司 |
主分类号: | G01N29/04 | 分类号: | G01N29/04;G01N29/27;G01N29/28 |
代理公司: | 武汉智嘉联合知识产权代理事务所(普通合伙) 42231 | 代理人: | 黄君军 |
地址: | 430000 湖北省武汉市东湖新技术开发区光谷七路*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | 本发明公开一种相控阵检测辅助装置,包括探头底座、管状导套、上下移动组件、左右移动组件以及安装底座;所述管状导套开设有供圆柱状工件穿过的通孔,所述管状导套可拆卸地穿设于所述探头底座内,多个相控阵探头均连接于所述探头底座上,多个所述相控阵探头沿所述管状导套的周向环绕设置,并形成圆形检测面,所述探头底座安装于所述上下移动组件上,所述上下移动组件与所述左右移动组件连接,所述左右移动组件安装于所述安装底座上。本发明不需要进行圆柱状工件的旋转即可完成圆柱状工件周向上的整圈检测。 | ||
搜索关键词: | 一种 相控阵 检测 辅助 装置 系统 | ||
【主权项】:
1.一种相控阵检测辅助装置,其特征在于,包括探头底座、管状导套、上下移动组件、左右移动组件以及安装底座;所述管状导套开设有供圆柱状工件穿过的通孔,所述管状导套可拆卸地穿设于所述探头底座内,多个相控阵探头均连接于所述探头底座上,多个所述相控阵探头沿所述管状导套的周向环绕设置,并形成圆形检测面,所述探头底座安装于所述上下移动组件上,所述上下移动组件与所述左右移动组件连接,所述左右移动组件安装于所述安装底座上。
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