[发明专利]一种基于反馈测量的太阳能电池板质量快速检测方法有效
| 申请号： | 201910249485.0 | 申请日： | 2019-03-29 |
| 公开（公告）号： | CN109950168B | 公开（公告）日： | 2021-03-05 |
| 发明（设计）人： | 汤景东;朱亚萍;杨成忠;刘宝玉;杨浩;尤伟航 | 申请（专利权）人： | 杭州电子科技大学 |
| 主分类号： | H01L21/66 | 分类号： | H01L21/66 |
| 代理公司： | 浙江千克知识产权代理有限公司 33246 | 代理人： | 周希良 |
| 地址： | 310018 浙*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于反馈测量的太阳能电池板质量快速检测方法。本发明包含以下步骤：1、搭建整个检测环境；2、太阳能电池板测量IV数据200个点及温度；3、对200个IV数据进行优化，优化到20个点并绘制IV曲线；4、通过IV数据及温度参数求解得到太阳能电池板特性；5、根据测得特性与标准特性进行对比，判断是否合格；6、第二块太阳能电池板开始使用反馈测量方法；7、合格的太阳能电池板放入一个盒子里并记录20个点的电阻值和IV曲线，不合格的放入一个盒子里不记录20个点的电阻值和IV曲线。本发明可有效的提高太阳能电池板质量检测的速度和自动化程度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 反馈 测量 太阳能 电池板 质量 快速 检测 方法 | ||
【主权项】：
1.一种基于反馈测量的太阳能电池板质量快速检测方法，其特征在于包括如下步骤：步骤 1、搭建整个检测环境；步骤 2、太阳能电池板测量IV数据200个点及温度；步骤 3、对200个IV数据进行优化，优化到20个点并绘制IV曲线；步骤 4、通过IV数据及温度参数求解得到太阳能电池板特性；步骤 5、根据测得特性与标准特性进行对比，判断是否合格；步骤 6、第二块太阳能电池板开始使用反馈测量；步骤 7、合格的太阳能电池板放入一个盒子里并记录20个点的电阻值和IV曲线，不合格的放入一个盒子里不记录20个点的电阻值和IV曲线。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理；集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理；集成电路器件或其特殊部件的制造
