[发明专利]一种GaN/Si微米线阵列光探测器及其制备方法在审

专利信息
申请号: 201910246716.2 申请日: 2019-03-29
公开(公告)号: CN110010718A 公开(公告)日: 2019-07-12
发明(设计)人: 宋伟东;王林媛;罗幸君;孙一鸣;李述体;陈浩;陈钊;郭月;高妍;王波;曾庆光;张业龙;张弛 申请(专利权)人: 五邑大学
主分类号: H01L31/109 分类号: H01L31/109;H01L31/0216;H01L31/18
代理公司: 广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205 代理人: 谭晓欣
地址: 529000 广*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种GaN/Si微米线阵列光探测器,包括由下至上依次排列的金属电极,Si层,GaN微米线阵列层和ITO导电层。所述Si层为p型导电Si层。另外本发明还公开了所述GaN/Si微米线阵列光探测器的制备方法,包括Si层的处理、GaN微米线阵列层的制备、ITO导电层的制备和金属电极的制备步骤。本发明所述GaN/Si微米线阵列光探测器宽光谱响应,所制备的GaN/Si微米线阵列光探测器对从紫外到近红外的光具有良好的响应特性、响应速度快、灵敏度高、工作稳定性好,且能进行自供电工作。另外,所述的制备方法过程简单,成本低,适合工业量产。
搜索关键词: 微米线 制备 光探测器 金属电极 阵列层 制备方法过程 工作稳定性 响应特性 依次排列 工业量 宽光谱 灵敏度 自供电 响应
【主权项】:
1.一种GaN/Si微米线阵列光探测器,其特征在于,包括由下至上依次排列的金属电极,Si层,GaN微米线阵列层和ITO导电层。
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