[发明专利]基于双环结构的抗冲击干涉式光纤陀螺仪及其检测方法

摘要

本发明公开了一种基于双环结构的抗冲击干涉式光纤陀螺仪及其检测方法，设置两个光纤陀螺，实时比较两个光纤陀螺的积分数据，在受到大冲击时，以参考光纤陀螺的积分数据为参考，判断主光纤陀螺是否正常工作，在主光纤陀螺正常工作时，输出主光纤陀螺的检测数据，在主光纤陀螺出现跨条纹检测问题而工作异常时，输出参考光纤陀螺的检测数据，可以保证干涉式光纤陀螺仪在大冲击情况下仍能保持正常工作，在判断大冲击结束后，对主光纤陀螺的积分器清零，以参考光纤陀螺为参考，将主光纤陀螺拉回至初始正常工作点，使主光纤陀螺恢复正常，输出主光纤陀螺的检测数据，特别适用于高精度干涉式光纤陀螺仪，可以提高高精度干涉式光纤陀螺仪的抗冲击性能。

主权项

1.一种基于双环结构的抗冲击干涉式光纤陀螺仪，其特征在于，包括：光源、第一耦合器、主光纤陀螺、参考光纤陀螺及信号处理器；其中，/n所述第一耦合器分别与所述光源、所述主光纤陀螺和所述参考光纤陀螺连接，用于接收所述光源发出的光，并将接收的光分成两束分别传输给所述主光纤陀螺和所述参考光纤陀螺；/n所述信号处理器分别与所述主光纤陀螺和所述参考光纤陀螺连接，用于在检测之前对所述主光纤陀螺和所述参考光纤陀螺进行信号同步处理，实时比较所述主光纤陀螺的积分数据与所述参考光纤陀螺的积分数据；以所述参考光纤陀螺的积分数据为参考，判断所述主光纤陀螺是否正常工作；若是，则输出所述主光纤陀螺的检测数据；若否，则输出所述参考光纤陀螺的检测数据，在冲击结束后对所述主光纤陀螺的积分器进行清零，以所述参考光纤陀螺为参考，将所述主光纤陀螺拉回至初始正常工作点，输出所述主光纤陀螺的检测数据；/n所述主光纤陀螺包括第二耦合器、第一相位调制器、第一探测器和第一敏感光纤环；所述参考光纤陀螺包括第三耦合器、第二相位调制器、第二探测器和第二敏感光纤环；其中，/n所述第二耦合器和所述第三耦合器分别与所述第一耦合器连接，用于分别接收所述第一耦合器分成的两束光；/n所述第一相位调制器分别与所述第二耦合器和所述第一敏感光纤环连接，用于对进入所述第一相位调制器的光进行相位调制；所述第二相位调制器分别与所述第三耦合器和所述第二敏感光纤环连接，用于对进入所述第二相位调制器的光进行相位调制；/n所述第一探测器分别与所述第二耦合器和所述信号处理器连接，用于接收所述第二耦合器输出的光信号，并将接收的光信号转换为电压信号发送给所述信号处理器；所述第二探测器分别与所述第三耦合器和所述信号处理器连接，用于接收所述第三耦合器输出的光信号，并将接收的光信号转换为电压信号发送给所述信号处理器；/n所述第一敏感光纤环的长度与直径的乘积大于所述第二敏感光纤环的长度与直径的乘积；/n所述信号处理器包括：数字信号处理器以及与所述数字信号处理器分别电性连接的第一模拟信号检测电路和第二模拟信号检测电路；其中，/n所述第一模拟信号检测电路的第一输入端与所述第一探测器电性连接，所述第一模拟信号检测电路的第一输出端和第二输入端与所述数字信号处理器电性连接，所述第一模拟信号检测电路的第二输出端与所述第一相位调制器电性连接；/n所述第二模拟信号检测电路的第一输入端与所述第二探测器电性连接，所述第二模拟信号检测电路的第一输出端和第二输入端与所述数字信号处理器电性连接，所述第二模拟信号检测电路的第二输出端与所述第二相位调制器电性连接。/n