[发明专利]一种集成电路IO特性智能测试仪在审
| 申请号： | 201910241029.1 | 申请日： | 2019-03-28 |
| 公开（公告）号： | CN109975689A | 公开（公告）日： | 2019-07-05 |
| 发明（设计）人： | 高源;刘一清;毛雨阳;周家辉 | 申请（专利权）人： | 华东师范大学 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R1/04 |
| 代理公司： | 上海蓝迪专利商标事务所(普通合伙) 31215 | 代理人： | 徐筱梅;张翔 |
| 地址： | 200241 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种集成电路IO特性智能测试仪，其特点是该测试仪由单片机、可调电源模块、LCD触摸显示模块、继电器模块和电流检测模块组成，将待检测芯片串接在继电器模块和电流检测模块之间，对芯片的ESD二极管进行性能检测，所述单片机与可调电源模块、LCD触摸显示模块、继电器模块和电流检测模块连接；所述电流检测模块与可调电源模块连接；所述继电器模块采用117路继电器连接八个4转16译码器。本发明与现有技术相比具有测试误差小，防止信号串扰，有效避免电源倒灌，测试方便，降低测试过程中误操作对芯片造成的危害。 | ||
| 搜索关键词： | 电流检测模块 继电器模块 可调电源模块 触摸显示模块 智能测试仪 单片机 集成电路 继电器 译码器 芯片 二极管 测试过程 测试误差 电源倒灌 防止信号 检测芯片 性能检测 测试仪 误操作 串接 串扰 测试 | ||
【主权项】：
1.一种集成电路IO特性智能测试仪，其特征在于该测试仪由单片机、可调电源模块、LCD触摸显示模块、继电器模块和电流检测模块组成，将待检测芯片串接在继电器模块和电流检测模块之间，对待检测芯片的ESD二极管进行性能检测，所述单片机各引脚分别与可调电源模块、LCD触摸显示模块、继电器模块和电流检测模块连接；所述电流检测模块与可调电源模块连接。
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