[发明专利]延迟校正方法、电路、装置、设备及计算机可读存储介质有效
| 申请号： | 201910239976.7 | 申请日： | 2019-03-27 |
| 公开（公告）号： | CN110109509B | 公开（公告）日： | 2021-03-02 |
| 发明（设计）人： | 王楠;马里 | 申请（专利权）人： | 北京比特大陆科技有限公司 |
| 主分类号： | G06F1/04 | 分类号： | G06F1/04;G06F13/16 |
| 代理公司： | 北京景闻知识产权代理有限公司 11742 | 代理人： | 李芳 |
| 地址： | 100192 北京市*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本公开公开了一种延迟校正方法、电路、装置、设备及计算机可读存储介质。所述方法包括：设置第一采样时钟延迟值并进行数据采样得到第一采样数据，第一采样时钟延迟值用于控制第一采样时钟的延迟，以确定第一数据采样窗口的第一采样点；设置第二采样时钟延迟值并进行数据采样得到第二采样数据，第二采样时钟延迟值用于控制第二采样时钟的延迟，以确定第二数据采样窗口的第二采样点；改变第二采样时钟延迟值，根据第一采样数据与第二采样数据的比较结果，对第一采样时钟延迟值校正。该技术方案能够自适应跟踪有效数据采样窗口，在不增加生产难度、不增加成本、不影响内存带宽的前提下，使内存控制器在各种环境下均可稳定的从内存颗粒中读取数据。 | ||
| 搜索关键词： | 延迟 校正 方法 电路 装置 设备 计算机 可读 存储 介质 | ||
【主权项】：
1.一种延迟校正方法，其特征在于，包括：设置第一采样时钟延迟值并进行数据采样得到第一采样数据，其中，所述第一采样时钟延迟值用于控制第一采样时钟的延迟，以确定第一数据采样窗口的第一采样点；设置第二采样时钟延迟值并进行数据采样得到第二采样数据，其中，所述第二采样时钟延迟值用于控制第二采样时钟的延迟，以确定第二数据采样窗口的第二采样点；改变所述第二采样时钟延迟值，并根据所述第一采样数据与第二采样数据的比较结果，对于所述第一采样时钟延迟值进行校正。
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