[发明专利]用于摄像模组质检的污点测试方法、装置、系统及存储介质有效
| 申请号： | 201910222883.3 | 申请日： | 2019-03-22 |
| 公开（公告）号： | CN111738973B | 公开（公告）日： | 2023-08-15 |
| 发明（设计）人： | 周广福;马江敏;廖海龙;黄宇;张胜 | 申请（专利权）人： | 宁波舜宇光电信息有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T7/11;G06T7/136;G06T7/194;H04N17/00 |
| 代理公司： | 北京英赛嘉华知识产权代理有限责任公司 11204 | 代理人： | 王达佐;王艳春 |
| 地址： | 315400 浙江*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本申请提供了一种用于摄像模组质检的污点测试方法、装置、系统及存储介质，所述方法包括：将测试图像划分为多个初始分区，每个初始分区具有不同的污点识别阈值；对于每个初始分区，基于自适应污点分割方法获得包含污点的二值图像，其中，自适应污点分割方法包括：对于当前分区，对测试图像进行自适应曲面拟合获得拟合图像；用所述拟合图像减去所述测试图像得到前景图像；以及根据前景图像的亮度最大值和亮度最小值之差是否大于预设的阈值来确定是否对当前分区进行自适应分割。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 摄像 模组 质检 污点 测试 方法 装置 系统 存储 介质 | ||
【主权项】：
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