[发明专利]齿面残余应力测量方法有效
申请号: | 201910217422.7 | 申请日: | 2019-03-21 |
公开(公告)号: | CN109827691B | 公开(公告)日: | 2019-12-31 |
发明(设计)人: | 肖雨亮;王时龙;马驰;王四宝 | 申请(专利权)人: | 重庆大学 |
主分类号: | G01L5/00 | 分类号: | G01L5/00 |
代理公司: | 50247 重庆航图知识产权代理事务所(普通合伙) | 代理人: | 胡小龙 |
地址: | 400044 *** | 国省代码: | 重庆;50 |
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摘要: | 一种齿面残余应力测量方法,包括如下步骤:1)切齿:将待测齿面所在的轮齿沿其齿根切下;2)确定测量点:在切下的轮齿的齿面上选择位置点,且当该位置点满足kd≤R时,视为该位置点所在的齿面区域为平面,则选择该位置点为测量点;3)调节:调节齿面在测量点处的切面与残余应力仪的检测射线光路之间的夹角等于设定值,并将残余应力仪的摄像头对焦在对应测量点处;或调节齿面在所述测量点处的切面与残余应力仪的对焦探针之间的夹角等于设定值α,并使残余应力仪的对焦探针对焦在对应的测量点处;4)测量:利用残余应力仪测量该测量点所在的齿面区域的残余应力。具有方便对焦、光路和衍射环光路不会被遮挡的优点,并能够提高测量精度。 | ||
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【主权项】:
1.一种齿面残余应力测量方法,其特征在于:包括如下步骤:/n1)切齿:将待测齿面所在的轮齿沿其齿根切下;/n2)确定测量点:在切下的轮齿的齿面上选择位置点,且当该位置点满足kd≤R时,视为该位置点所在的齿面区域为平面,则选择该位置点为测量点;其中,d为残余应力仪投射在对应位置点所在的齿面上的光斑的直径;R为齿面在该位置点处的曲率半径;k为系数,且k≥3;/n3)调节:调节齿面在所述测量点处的切面与残余应力仪的检测射线光路之间的夹角等于设定值γ,并将残余应力仪的摄像头对焦在对应测量点处;/n所述轮齿为圆柱齿轮的轮齿;所述齿面在所述测量点处的切面与残余应力仪的检测射线光路之间的夹角的调节方法为:/n31a)将残余应力仪调节到设定位置处,并设检测射线光路与摄像头之间构成的平面为基准面;/n32a)调节轮齿,使轮齿齿面过所述测量点的啮合线与所述基准面垂直,或使轮齿齿面过所述测量点的啮合线在该测量点处的切线与所述基准面垂直;/n33a)以与所述基准面平行或共面的平面为截面,驱动轮齿绕垂直于基准面的转轴旋转,使所述截面在轮齿齿面上截得的齿廓曲线的对称线与残余应力仪的检测射线光路之间的夹角等于设定值γ;/n34a)驱动轮齿绕垂直于所述基准面的转轴旋转,使截得的齿廓曲线在所述测量点处的切线与残余应力仪的检测射线光路之间的夹角等于设定值γ;/n或,/n调节齿面在所述测量点处的切面与残余应力仪的对焦探针之间的夹角等于设定值α,并使残余应力仪的对焦探针对焦在对应的测量点处;/n所述轮齿为圆柱齿轮的轮齿;所述齿面在所述测量点处的切面与残余应力仪的对焦探针之间的夹角的调节方法为:/n31b)将残余应力仪调节到设定位置处,并设检测射线光路与摄像头之间构成的平面为基准面;/n32b)调节轮齿,使轮齿齿面过所述测量点的啮合线与所述基准面垂直,或使轮齿齿面过所述测量点的啮合线在该测量点处的切线与所述基准面垂直;/n33b)以与所述基准面平行或共面的平面为截面,驱动轮齿绕垂直于基准面的转轴旋转,使所述截面在轮齿齿面上截得的齿廓曲线的对称线与残余应力仪的对焦探针之间的夹角等于设定值α;/n34b)驱动轮齿绕垂直于所述基准面的转轴旋转,使截得的齿廓曲线在所述测量点处的切线与残余应力仪的对焦探针之间的夹角等于设定值α;/n4)测量:利用残余应力仪测量该测量点所在的齿面区域的残余应力。/n
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