[发明专利]回归测试方法、装置、介质及电子设备在审
| 申请号： | 201910176662.7 | 申请日： | 2019-03-08 |
| 公开（公告）号： | CN111666201A | 公开（公告）日： | 2020-09-15 |
| 发明（设计）人： | 李超 | 申请（专利权）人： | 北京京东尚科信息技术有限公司;北京京东世纪贸易有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/36 | 分类号： | G06F11/36 |
| 代理公司： | 北京律智知识产权代理有限公司 11438 | 代理人： | 袁礼君;阚梓瑄 |
| 地址： | 100086 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明实施例提供了一种回归测试方法、回归测试装置、计算机可读介质及电子设备，涉及软件测试技术领域。该方法包括：采集应用程序线上版本的日志数据；从所述日志数据中确定出所述应用程序的测试任务所需的测试数据；利用所述测试数据获取所述测试任务在所述线上版本的第一执行结果，并获取所述测试任务在所述应用程序的待测版本的第二执行结果；对比所述第一执行结果与所述第二执行结果，根据对比结果确定所述待测版本的测试结果。本发明实施例的技术方案能够提高回归测试的效率。 | ||
| 搜索关键词： | 回归 测试 方法 装置 介质 电子设备 | ||
【主权项】：
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