[发明专利]一种闪存芯片的寿命预测方法及装置有效
| 申请号： | 201910175550.X | 申请日： | 2019-03-08 |
| 公开（公告）号： | CN110007857B | 公开（公告）日： | 2022-08-19 |
| 发明（设计）人： | 杨佛根 | 申请（专利权）人： | 北京星网锐捷网络技术有限公司 |
| 主分类号： | G06F3/06 | 分类号： | G06F3/06 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 100036 北京市海淀区*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明实施例提供一种闪存芯片的寿命预测方法及装置。所述方法包括：根据闪存芯片的擦除函数确定所述闪存芯片的探测处理函数，其中，所述探测处理函数用于监测所述擦除函数的擦除参数；在所述擦除函数的函数入口注册所述探测处理函数；在所述闪存芯片进行擦除操作过程中，运行所述擦除函数，调用所述探测处理函数，根据所述探测处理函数在监测所述擦除函数的擦除参数后返回的擦除数据确定所述闪存芯片的已擦除次数；根据所述已擦除次数，预测所述闪存芯片的寿命。本发明实施例通过注入探测的方式，能适配所有闪存芯片，同时能在不同版本Linux系统上快速移植，节约了移植维护升级成本。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 闪存 芯片 寿命 预测 方法 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
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