[发明专利]电子装置、累计不良概率计算方法和计算机可读存储介质

摘要

本发明涉及一种数据分析技术，揭露了一种电子装置、累计不良概率计算方法和计算机可读存储介质。本发明计算各个风险等级的资产对应的第一年化累计不良概率，并判断第一年化累计不良概率是否满足预设条件；当满足时，将各个风险等级的资产对应的第一年化累计不良概率作为年化累计不良概率的计算结果；当不满足时，确定若干个参数取值组，并计算各所述参数取值组对应的拟合函数，再从中选出一个待使用拟合函数；根据待使用拟合函数，确定所有风险等级的资产对应的第二年化累计不良概率，并将各第二年化累计不良概率作为年化累计不良概率的计算结果。相较于现有技术，本发明提高了累计不良概率评估的效率及准确度。

主权项

1.一种电子装置，所述电子装置包括存储器和处理器，其特征在于，所述存储器上存储有累计不良概率计算程序，所述累计不良概率计算程序被所述处理器执行时实现如下步骤：获取步骤：获取各笔资产在预先确定的多个历史时期的资产信息，所述资产信息包括风险等级；计算步骤：根据所述资产信息，计算各个风险等级的资产对应的第一年化累计不良概率；判断步骤：判断各个风险等级的资产对应的第一年化累计不良概率是否满足预设条件，当满足时，将各个风险等级的资产对应的第一年化累计不良概率作为年化累计不良概率的计算结果，当不满足时，转入取值步骤；取值步骤：确定若干个参数取值组，每一个所述参数取值组包括若干个风险等级对应的参数取值；拟合步骤：将各个参数取值组中各个风险等级对应的参数取值进行拟合处理，得到各所述参数取值组对应的拟合函数；第一确定步骤：从各所述参数取值组对应的拟合函数中选出一个拟合函数作为待使用拟合函数；第二确定步骤：根据所述待使用拟合函数，确定所有风险等级的资产对应的第二年化累计不良概率，并将各所述风险等级的资产对应的第二年化累计不良概率作为年化累计不良概率的计算结果。