[发明专利]一种基于频域分析的电磁超声测厚方法

摘要

本发明属于电磁超声无损检测领域，并公开了一种基于频域分析的电磁超声测厚方法。该方法包括下列步骤：(a)选取已知厚度的试件和待测厚度试件，分别进行下列步骤：(a1)电磁超声传感器激励线圈发出信号，采集接收线圈的感应电信号作为接收信号；(a2)在接收信号上截取一段回波信号依次进行重采样、整周期延拓、低通滤波处理；(a3)将经处理的信号取正半周信号，在进行快速傅里叶变换获得频谱图，在该频谱图中选取部分频段对应的频谱，计算其中频谱峰值对应的频率；(b)利用公式计算待测厚度试件的厚度。通过本发明，将厚度信息从时域难以读取的周期变换到频域易读取的峰值，在不改变原有电路的基础上增大使用提离，提高检测精度。

主权项

1.一种基于频域分析的电磁超声测厚方法，其特征在于，该方法包括下列步骤：(a)选取同种材料的已知厚度的试件和待测厚度试件，分别进行下列步骤：(a1)将电磁超声传感器激励线圈和接受线圈安装在已知厚度的试件/待测厚度试件上，所述电磁超声传感器激励线圈发出信号，采集所述接受线圈的感应电信号，将该感应电信号作为标定信号；(a2)在所述标定信号上截取一段回波信号作为样本信号，将该样本信号依次进行重采样、整周期延拓、低通滤波、取正半周信号和快速傅里叶变换，以降低数据处理难度，提高频域分辨率和精度，将相互耦合的激励信号频率和回波信号频率在频域上分离，并获得所述样本信号对应的频谱图，在该频谱图中选取部分频段对应的频谱，获取其中频谱峰值对应的频率，其中，由所述已知厚度的试件获得的频率记为f₀，由所述待测厚度试件获得的频率为f₁；(b)利用下列公式计算待测厚度试件的厚度：D₁＝Df₀/f₁其中，D是已知厚度的试件的厚度，D₁是待测厚度试件的厚度。