[发明专利]一种NAND性能测试方法及其系统有效
| 申请号： | 201910111517.0 | 申请日： | 2019-02-12 |
| 公开（公告）号： | CN109817273B | 公开（公告）日： | 2020-12-29 |
| 发明（设计）人： | 马越;冯元元;周晨杰 | 申请（专利权）人： | 记忆科技（深圳）有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 深圳市精英专利事务所 44242 | 代理人： | 冯筠 |
| 地址： | 518000 广东省深*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种NAND性能测试方法及其系统；其中，NAND性能测试方法，包括以下步骤：S1，上位机通过算法构造出满足各个模式组合的命令包；S2，将命令包发送给NFC，NFC通过描述符的设置特性指令自动完成各个模式组合的NAND Flash的配置；S3，在相同环境下，NFC通过描述符对不同配置的NAND Flash进行读写操作，并进行读写性能测试；S4，将各个配置下的性能数据反馈至上位机；S5，将性能数据自动导入excel中，并生成数据对比文件和图示。本发明通过上位机自动完成对NAND Flash各个模式组合的配置，同时也可以对各个配置下的NAND Flash性能数据进行计算，比较和展示；提高了NAND性能测试的效率，节约了人力成本，能够更好地满足需求。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 nand 性能 测试 方法 及其 系统 | ||
【主权项】：
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