[发明专利]一种微波材料电磁参数测量仪器及测量方法

摘要

本发明公开了一种微波材料电磁参数测量仪器及测量方法。该测量仪器包括：激光加热装置、温度检测与控制装置、环境控制装置、微带线测试装置、矢量网络分析仪以及控制系统。本发明通过在传统微带线测试装置基础上增加激光加热系统、温度检测和控制单元以及环境控制装置，获取待测微波材料在试验温度和试验频率范围的电磁参数。该测量仪器可以控制合适的激光器功率，实现梯度式升温，同时具有保温效果，当温度达到设定温度时，可以启动保温程序，使当前测试条件稳定在需要温度条件下，使用保温以及梯度式加热方式，防止因为快速加热而造成的待测微波材料受热不均，突然炸裂。

主权项

1.一种微波材料电磁参数测量仪器，其特征在于，所述测量仪器包括：激光加热装置，用于发出激光对被测样品进行梯度式加热；温度检测与控制装置，与所述激光加热装置连接，用于控制所述激光加热装置对所述被测样品进行梯度式加热，以及用于检测所述被测样品的测试温度；环境控制装置，设置在所述激光加热装置的下方，所述被测样品放置在所述环境控制装置内；所述环境控制装置用于控制所述被测样品的被测环境；微带线测试装置，设置在所述环境控制装置内，所述被测样品设置在所述微带线测试装置上，所述微带线测试装置用于对所述被测样品进行微波测试，获取散射参数；矢量网络分析仪，与所述微带线测试装置连接，用于采集所述散射参数；控制系统，分别与所述矢量网络分析仪、所述温度检测与控制装置以及所述激光加热装置连接，用于分别向所述矢量网络分析仪以及所述温度检测与控制装置发送控制信号；以及用于根据所述测试温度、所述散射参数以及所述激光加热装置的加热频率，计算所述被测样品的电磁参数；所述矢量网络分析仪根据所述控制信号采集所述散射参数，所述温度检测与控制装置根据所述控制信号控制所述激光加热装置对所述被测样品进行梯度式加热。