[发明专利]一种用于fA～pA量级微弱电流的绝缘薄膜测量系统有效
| 申请号： | 201910094589.9 | 申请日： | 2019-01-30 |
| 公开（公告）号： | CN109709152B | 公开（公告）日： | 2021-04-06 |
| 发明（设计）人： | 尹海宏;王志亮;宋长青;印川;施天宇 | 申请（专利权）人： | 南通大学 |
| 主分类号： | G01N27/00 | 分类号： | G01N27/00 |
| 代理公司： | 南京苏科专利代理有限责任公司 32102 | 代理人： | 陈忠辉 |
| 地址： | 226019 *** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： |
本发明揭示了一种用于fA~pA量级微弱电流的绝缘薄膜测量系统，其中的电学测试装置中的前置跨阻放大器包括有两个CMOS运算放大器、四个CMOS传输门、四个CMOS反相器、六个电阻、两个电容。绝缘薄膜的漏电流大小通常介于数十fA（10 |
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| 搜索关键词： | 一种 用于 fa pa 量级 微弱 电流 绝缘 薄膜 测量 系统 | ||
【主权项】：
1.一种用于fA～pA量级微弱电流的绝缘薄膜测量系统，其特征在于：绝缘薄膜测量系统包括包括样品固定装置、电学测试装置和计算机；所述样品固定装置用于放置待测样品并引出两根测试电缆。
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