[发明专利]一种接触角检测模组、制作方法及检测方法有效
| 申请号： | 201910079482.7 | 申请日： | 2019-01-28 |
| 公开（公告）号： | CN109764829B | 公开（公告）日： | 2021-01-26 |
| 发明（设计）人： | 罗雯倩;李响;布占场 | 申请（专利权）人： | 京东方科技集团股份有限公司;北京京东方显示技术有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/26 | 分类号： | G01B11/26 |
| 代理公司： | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人： | 许静;黄灿 |
| 地址： | 100015 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明实施例提供一种接触角检测模组、制作方法及检测方法，其中接触角检测模组包括：相对设置的第一基板和第二基板；第一基板包括：第一衬底基板、位于第一衬底基板上的薄膜晶体管阵列、覆盖薄膜晶体管阵列的平坦化层，以及位于平坦化层上的光电探测器阵列，光电探测器阵列包括多个可单独寻址的光电探测器；第二基板包括：导光板、位于导光板上的准直光栅阵列，覆盖准直光栅阵列的低折射率层，低折射率层的折射率小于预设阈值；接触角检测模组还包括：位于导光板入光侧的光源；位于光源出光侧的可控光栅结构，可控光栅结构用于控制光源出射光线的出射角度。降低了人工参与程度，提高了测试精度和测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 接触角 检测 模组 制作方法 方法 | ||
【主权项】：
1.一种接触角检测模组，其特征在于，包括：相对设置的第一基板和第二基板；所述第一基板包括：第一衬底基板、位于所述第一衬底基板上的薄膜晶体管阵列、覆盖所述薄膜晶体管阵列的平坦化层，以及位于所述平坦化层上的光电探测器阵列，所述光电探测器阵列包括多个可单独寻址的光电探测器；所述第二基板包括：导光板、位于所述导光板上的准直光栅阵列，覆盖所述准直光栅阵列的低折射率层，所述低折射率层的折射率小于预设阈值；所述接触角检测模组还包括：位于所述导光板入光侧的光源；位于所述光源出光侧的可控光栅结构，所述可控光栅结构用于控制光源出射光线的出射角度。
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