[发明专利]基于微环结构的超紧凑调制器效率测试装置及测试方法

摘要

本发明公开一种基于微环结构的超紧凑调制器效率测试装置及测试方法，涉及光通信器件计算领域。该基于微环结构的超紧凑调制器效率测试装置包括光输入端、输入耦合区、直通端、微环谐振器、下行端、输出耦合区、加载端和正负电极。其中，通过将传统的调制器效率测试结构中的马赫曾德干涉仪结构替换为微环谐振结构可以使得测试单元部分尺寸大幅度的减小。本发明的基于微环结构的超紧凑调制器效率测试装置及方法具有结构紧凑、芯片所占面积小、测试过程简单、灵活、适用范围广、测试难度小、测试成本低的优点。

主权项

1.基于微环结构的超紧凑调制器效率测试装置，其特征在于，包括：微环谐振器、第一直波导、第二直波导、第一耦合器、第二耦合器、第三耦合器、第四耦合器，其中：所述微环谐振器设置在中央，微环谐振器由一个波导内部嵌入了调制器有源区的波导型环构成；微环谐振器的正负极由两个金属电极构成，其中正负极通过金属连接到微环谐振器波导嵌入的有源区上；所述第一直波导设置在靠近微环谐振器正极的一侧，与微环谐振器相隔一定距离，所述第一直波导的两端分别连接至第一耦合器和第二耦合器，构成直通端及光输入端，第一直波导与微环谐振器相邻的区域构成输入耦合区；所述第二直波导设置在靠近微环谐振器负极的一侧，与微环谐振器相隔一定距离，所述第二直波导的两端分别连接至第三耦合器和第四耦合器，构成加载端及下行端，第二直波导与微环谐振器相邻的区域构成输出耦合区；所述第二直波导与第一直波导相互平行。