[发明专利]静电可控磨粒流加工去除量检测装置与检测方法在审
| 申请号： | 201910077014.6 | 申请日： | 2019-01-27 |
| 公开（公告）号： | CN109551375A | 公开（公告）日： | 2019-04-02 |
| 发明（设计）人： | 蔡东海;金明生;王扬渝;屠立群;齐欢;陈珍珍 | 申请（专利权）人： | 浙江工业大学 |
| 主分类号： | B24C1/08 | 分类号： | B24C1/08;B24C9/00;G01N15/10;G06F17/50 |
| 代理公司： | 杭州浙科专利事务所(普通合伙) 33213 | 代理人： | 吴秉中 |
| 地址： | 310014 浙江省*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种静电可控磨粒流加工去除量检测装置及检测方法，包括磨粒流加工装置、法拉第筒法系统和显微可视化系统，所述磨粒流加工系统包括高压静电发生器、配模吸附平台、外加电场、磨粒流和工件，工件通过配模吸附平台进行固定，磨粒流经过高压静电发生器后发射到工件表面进行磨粒流加工，外加电场直接加载在整个配模吸附平台和工件上；本发明提出适用于电荷尖端聚集效应的静电可控磨粒流加工方法经验预测模型方程，通过法拉第筒系统设计解决了磨粒的带电电荷量测量的相关，为选择合适磨粒与工件的切削作用力提供理论依据。 | ||
| 搜索关键词： | 磨粒流加工 吸附平台 静电 可控 高压静电发生器 量检测装置 法拉第筒 外加电场 磨粒流 磨粒 去除 可视化系统 作用力提供 带电电荷 工件表面 经验预测 模型方程 系统设计 电荷 量测量 检测 切削 加载 显微 发射 | ||
【主权项】：
1.一种静电可控磨粒流加工去除量检测装置，其特征在于：包括磨粒流加工装置、法拉第筒法系统和显微可视化系统，所述磨粒流加工系统包括高压静电发生器(1)、配模吸附平台(4)、外加电场(5)、磨粒流(2)和工件(3)，工件(3)通过配模吸附平台(4)进行固定，磨粒流(2)经过高压静电发生器(1)后发射到工件(3)表面进行磨粒流加工，外加电场(5)直接加载在整个配模吸附平台(4)和工件(3)上；所述法拉第筒法系统包括外筒体(6)、内筒体(12)、非电解质溶液(16)、静电计(17)和绝缘体(18)，非电解质溶液(16)放置在内筒体(12)内部，经过高压静电发生器(1)后的磨粒直接注入非电解质溶液(16)中，内筒体(12)设置在外筒体(6)内部，静电计(17)设置在外筒体(6)外侧，静电计(17)的检测端设置在内筒体(12)上，内筒体(12)通过绝缘体(18)连接外筒体(6)；所述为可视化系统包括激光器(20)、反光镜(21)、连续变焦镜头和CCD高速摄像机，激光器(20)发射的光线经过反光镜(21)反光后照亮整个窗口内的流场，CCD高速摄像机通过连续变焦镜头的放大后对视场内被示踪细微磨粒进行拍摄和储存。
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