[发明专利]一种基于KB镜聚焦的同步辐射共聚焦荧光实验装置在审

专利信息
申请号: 201910062764.6 申请日: 2019-01-23
公开(公告)号: CN109839400A 公开(公告)日: 2019-06-04
发明(设计)人: 闫帅;蒋升;梁东旭;王娟;周春银;林晓胜 申请(专利权)人: 中国科学院上海应用物理研究所
主分类号: G01N23/223 分类号: G01N23/223;G01N23/04
代理公司: 上海智信专利代理有限公司 31002 代理人: 邓琪;杨希
地址: 201800 上*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明涉及一种基于KB镜聚焦的同步辐射共聚焦荧光实验装置,其包括:一KB镜,其用于接收入射的非聚焦的硬X射线,并射出聚焦X射线;一样品控制系统,其用于调节放置在其上的标样的姿态,并在一显微镜系统的辅助定位下,将所述标样调整到所述聚焦X射线的焦点上;所述显微镜系统置于与所述聚焦X射线的光路成45度角的方向上;以及一探测器系统,其置于与所述聚焦X射线的光路成90度角的方向上,以用于收集所述标样在该方向上发出的荧光信号。本发明采用由KB镜聚焦的X射线实现共聚焦荧光实验;相比传统共聚焦装置,本发明的整个装置是针对小光斑设计的,可以实现更小的共聚焦微元,从而实现更高的共聚焦实验空间分辨率。
搜索关键词: 共聚焦 聚焦 荧光实验 标样 显微镜系统 同步辐射 光路 探测器系统 辅助定位 控制系统 实验空间 荧光信号 硬X射线 小光斑 分辨率 射出 焦点 收入
【主权项】:
1.一种基于KB镜聚焦的同步辐射共聚焦荧光实验装置,其特征在于,所述装置包括:一KB镜,其用于接收入射的非聚焦的硬X射线,并射出聚焦X射线;一样品控制系统,其用于调节放置在其上的标样的姿态,并在一显微镜系统的辅助定位下,将所述标样调整到所述聚焦X射线的焦点上;所述显微镜系统置于与所述聚焦X射线的光路成45度角的方向上;以及一探测器系统,其置于与所述聚焦X射线的光路成90度角的方向上,以用于收集所述标样在该方向上发出的荧光信号。
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