[发明专利]一种基于AOI的显示面板微小缺陷判定方法与装置在审
| 申请号： | 201910060055.4 | 申请日： | 2019-01-22 |
| 公开（公告）号： | CN109856156A | 公开（公告）日： | 2019-06-07 |
| 发明（设计）人： | 李渊;张胜森;程果;郑增强 | 申请（专利权）人： | 武汉精立电子技术有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/95 | 分类号： | G01N21/95 |
| 代理公司： | 武汉科皓知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 42222 | 代理人： | 胡琦旖 |
| 地址： | 430205 湖北省武*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明属于显示屏缺陷检测技术领域，公开了一种基于AOI的显示面板微小缺陷判定方法与装置，通过大相机检测获取微小缺陷的位置，通过小相机对微小缺陷进行二次图像采集，并进行分析处理，最终输出缺陷类型。本发明能够对微小缺陷进行精准分类，实现面板的正确降等分类。 | ||
| 搜索关键词： | 微小缺陷 显示面板 判定 缺陷检测技术 二次图像 分析处理 精准分类 缺陷类型 相机检测 小相机 显示屏 采集 输出 分类 | ||
【主权项】：
1.一种基于AOI的显示面板微小缺陷判定方法，其特征在于，包括以下步骤：通过第一相机对显示面板的整个区域进行图像采集，得到第一图像；根据所述第一图像获取微小缺陷的位置信息；根据所述微小缺陷的位置信息，通过第二相机对显示面板的缺陷区域进行图像采集，得到第二图像；根据所述第二图像对微小缺陷进行检测分类处理；其中，所述第一相机为黑白相机，所述第二相机为彩色相机，所述第一相机的分辨率高于所述第二相机。
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