[发明专利]一种基于氧化铒薄膜的忆阻器件及其制备方法有效
申请号: | 201910051937.4 | 申请日: | 2019-01-21 |
公开(公告)号: | CN109888090B | 公开(公告)日: | 2021-05-18 |
发明(设计)人: | 赵勇;毛双锁;孙柏;付国强;李冰 | 申请(专利权)人: | 西南交通大学 |
主分类号: | H01L45/00 | 分类号: | H01L45/00 |
代理公司: | 成都虹盛汇泉专利代理有限公司 51268 | 代理人: | 王伟 |
地址: | 610031 四川省*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: |
本发明公开了基于氧化铒薄膜的忆阻器件及其制备方法,所述忆阻器括顶电极、氧化铒薄膜以及底电极,所述氧化铒薄膜位于顶电极和底电极之间,其中,顶电极和底电极的材料分别为氧化铟锡或银。一种上述基于氧化铒薄膜的忆阻器的制备方法,包括以下步骤:S1:清洗衬底;S2:采用磁控溅射法,以氧化铟锡或银靶材为溅射源,在基片上溅射沉积底电极;S3:采用射频溅射法,以氧化铒靶材为溅射源,在底电极上沉积功能层Er |
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搜索关键词: | 一种 基于 氧化 薄膜 器件 及其 制备 方法 | ||
【主权项】:
1.一种基于氧化铒薄膜的忆阻器,其特征在于:所述忆阻器包括顶电极、氧化铒薄膜以及底电极,所述氧化铒薄膜位于顶电极和底电极之间,其中,顶电极和底电极的材料分别为氧化铟锡或银,构成氧化铟锡或银/氧化铒/氧化铟锡或银三明治结构。
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