[发明专利]一种基于氧化铒薄膜的忆阻器件及其制备方法有效

专利信息
申请号: 201910051937.4 申请日: 2019-01-21
公开(公告)号: CN109888090B 公开(公告)日: 2021-05-18
发明(设计)人: 赵勇;毛双锁;孙柏;付国强;李冰 申请(专利权)人: 西南交通大学
主分类号: H01L45/00 分类号: H01L45/00
代理公司: 成都虹盛汇泉专利代理有限公司 51268 代理人: 王伟
地址: 610031 四川省*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明公开了基于氧化铒薄膜的忆阻器件及其制备方法,所述忆阻器括顶电极、氧化铒薄膜以及底电极,所述氧化铒薄膜位于顶电极和底电极之间,其中,顶电极和底电极的材料分别为氧化铟锡或银。一种上述基于氧化铒薄膜的忆阻器的制备方法,包括以下步骤:S1:清洗衬底;S2:采用磁控溅射法,以氧化铟锡或银靶材为溅射源,在基片上溅射沉积底电极;S3:采用射频溅射法,以氧化铒靶材为溅射源,在底电极上沉积功能层Er2O3薄膜;S4:采用直流溅射法,以氧化铟锡或银靶材为溅射源,在氧化铒薄膜表面沉积上电极。器件结构简单、性能优异、稳定、重复性好,制备方法步骤简单,在新型存储器、振荡器等电子器件领域具有很好的应用前景。
搜索关键词: 一种 基于 氧化 薄膜 器件 及其 制备 方法
【主权项】:
1.一种基于氧化铒薄膜的忆阻器,其特征在于:所述忆阻器包括顶电极、氧化铒薄膜以及底电极,所述氧化铒薄膜位于顶电极和底电极之间,其中,顶电极和底电极的材料分别为氧化铟锡或银,构成氧化铟锡或银/氧化铒/氧化铟锡或银三明治结构。
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