[发明专利]发光二极管的外延片及其制备方法有效

专利信息
申请号: 201910047898.0 申请日: 2019-01-18
公开(公告)号: CN109904286B 公开(公告)日: 2021-08-06
发明(设计)人: 陶章峰;程金连;乔楠;胡加辉;李鹏 申请(专利权)人: 华灿光电(浙江)有限公司
主分类号: H01L33/02 分类号: H01L33/02;H01L33/12;H01L33/00
代理公司: 北京三高永信知识产权代理有限责任公司 11138 代理人: 徐立
地址: 322000 浙江省*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明公开了发光二极管的外延片及其制备方法,属于半导体光电领域。在AlN层与未掺杂GaN层之间依次设置AlxGa1‑xN层与AlyGa1.5yIn1‑2.5yN层,AlxGa1‑xN层与AlyGa1.5yIn1‑2.5yN层Al的组分可在以下范围:0.4≤x≤1,0.2≤y≤0.4,AlxGa1‑xN层与AlyGa1.5yIn1‑2.5yN层Al的组分在该范围内时,可缓解AlN层及未掺杂GaN层之间的晶格失配。且AlxGa1‑xN层中Al的组分与AlyGa1.5yIn1‑2.5yN层中Al的组分均沿二者生长方向逐渐减小,二者中Al的组分在二者的界面处为0.4,能够较好地实现AlN层与未掺杂GaN层的连接,减小AlN层及未掺杂GaN层之间由晶格失配产生的缺陷,提高最终得到的发光二极管的外延片的晶体质量,提高最终得到的发光二极管的发光效率。
搜索关键词: 发光二极管 外延 及其 制备 方法
【主权项】:
1.一种发光二极管的外延片,其特征在于,所述外延片包括衬底及依次层叠在所述衬底上的AlN层、AlxGa1‑xN层、AlyGa1.5yIn1‑2.5yN层、未掺杂GaN层、应力释放层、N型GaN层、多量子阱层及P型GaN层,其中,0.4≤x≤1,0.2≤y≤0.4,所述AlxGa1‑xN层中Al的组分沿所述AlxGa1‑xN层的生长方向逐渐减小,所述AlyGa1.5yIn1‑2.5yN层中Al的组分沿所述AlyGa1.5yIn1‑2.5yN层的生长方向逐渐减小,所述AlxGa1‑xN层中Al的组分与所述AlyGa1.5yIn1‑2.5yN层中Al的组分在所述AlxGa1‑xN层与所述AlyGa1.5yIn1‑2.5yN层界面处相等。
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