[发明专利]一种激光辅助全反射X荧光铀矿痕量元素分析装置

摘要

本发明公开一种激光辅助全反射X荧光铀矿痕量元素分析装置，其包括激发光源、探测装置、样品台、激光辅助分析装置、分析器及电路输出设备。本发明的优点在于：够快速、有效的样品定位及面积、厚度监测，克服样品的厚度、面积变化对全反射光学的影响，提高TXRF测量准确度。采用全反射X射线荧光分析原理，能够快速检测样品中痕量重金属的含量，简单快捷并且低成本；精度高，测量时间短，人为误差小，操作者劳动强度低；本发明X荧光测重金属仪无化学污染、无放射性污染、测量时间短、精度高、结构简单、安全可靠，使用方便。

主权项

1.一种激光辅助全反射X荧光铀矿痕量元素分析装置，其包括激发光源、探测装置、样品台、激光辅助分析装置、分析器及电路输出设备，其特征在于：所述激发光源包括X光管（1），X光管高压（6）及设置于X光管（1）出口处的准直器（2），X光管高压（6）通过电路与X光管（1）连接；所述探测装置包括硅漂移探测器（3）、硅漂移探测器（3）通过电路连接设有探测器高压（7）、电荷灵敏前置放大器（8），电荷灵敏前置放大器（8）通过电路连接设有脉冲成型放大器（9）；所述样品台包括手动旋转位移台（12），手动旋转位移台（12）上设有角位台（13），角位台（13）上设有样品盒（4），样品盒（4）中放置有样品；所述激光辅助分析装置包括激光光源（15）及靶点（16），激光光源（15）固定于角位台（13）上方，靶点（16）就有刻度尺位于准直器（2）的外表面；所述分析器为与脉冲成型放大器（9）相连的数字化多道谱仪（10）；所述电路输出设备包括与数字化多道谱仪（10）连接的进行数据分析的计算机（11）及与计算机（11）连接的用于输出显示计算机（11）分析出的数据的打印器及显示器（14）。